[發明專利]瞬態瑞雷波探測校正方法和裝置

有效

• 申請號: 201710897962.5
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107728212B
• 公開（公告）日: 2019-07-02
• 發明（設計）人: 胡澤安;張平松;吳榮新;郭立全;吳海波;劉暢
• 申請（專利權）人: 安徽理工大學
• 主分類號: G01V1/36
• 分類號: G01V1/36
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊澤;劉芳

本發明提供一種瞬態瑞雷波探測校正方法和裝置。該方法包括：沿基準面的橫坐標所在方向上按照預設距離移動檢波器組，獲取每次移動過程中檢波器組中多個檢波器的基準位置坐標；根據每次移動過程中檢波器組中各檢波器的基準位置坐標，分別確定多個測點的基準位置坐標各自對應為每次移動過程中檢波器組的中心位置坐標；在各測點的基準位置坐標處分別進行瞬態瑞雷波探測處理，確定各測點到基巖面的測深基準坐標；根據每次移動過程中檢波器組中各檢波器的實際位置坐標，分別獲取各測點各自對應的擬合曲線；根據各測點各自對應的擬合曲線，分別對各測點的測深基準坐標進行校正處理，得到各測點的測深校正坐標。本發明實現了對地下基巖形態的準確探測。

技術領域

本發明涉及巖土工程勘察技術領域，尤其涉及一種瞬態瑞雷波探測校正方法和裝置。

背景技術

瑞雷波是沿巖土體自由表面或巖土體內的某個界面傳播的一種面波，是沿相應界面傳播的不均勻平面P波和不均勻平面SV波這兩種體波疊加而成的一種次生波，波動能量主要集中在波傳播的界面附近，在界面附近引起的質點振動軌跡為界面法線與波傳播方向所在平面內的逆進橢圓，橢圓長軸方向與界面法向方向一致。在分層均勻介質或不均勻介質中傳播的瑞雷波具有頻散特性，即，瑞雷波由一系列不同頻率成分的單頻波動組成，不同頻率成分的波動具有不同的傳播速度(相速度)；另外，單頻瑞雷波的有效穿透深度(具有足夠振動能量的波動影響深度)與波長成正比，即，瑞雷波的高頻(短波)成分反映淺部巖土介質性質，低頻(長波)成分反映深部巖土介質性質。

瞬態瑞雷波探測實質上是根據瑞雷波傳播的頻散特性，利用人工震源激發產生多種頻率成分的瑞雷波，尋找出波速隨頻率的變化關系，從而最終確定出地下基巖的瑞雷波速度隨場點坐標的變化關系，以解決淺層工程地質和地下基巖的地震工程等問題。

現有的瞬態瑞雷波探測方法通常需要將勘探工區的地形看作為近似水平，才能分析出地下基巖的形態。然而，實際地形的起伏會嚴重干擾探測的準確性。因此，現亟需一種能夠對地形起伏影響進行校正的瞬態瑞雷波探測方法。

發明內容

本發明提供一種瞬態瑞雷波探測校正方法和裝置，以解決現有的瞬態瑞雷波探測校正方法由于地形的起伏造成探測結果不準確的問題。

本發明提供一種瞬態瑞雷波探測校正方法，包括：

沿基準面的橫坐標所在方向上按照預設距離移動檢波器組，獲取每次移動過程中檢波器組中多個檢波器的基準位置坐標，其中所述基準面的橫坐標為任一水平直線，所述基準面的縱坐標為垂直于所述基準面的橫坐標的任一向下直線；

根據每次移動過程中檢波器組中各檢波器的基準位置坐標，分別確定多個測點的基準位置坐標各自對應為每次移動過程中檢波器組的中心位置坐標；

在各測點的基準位置坐標處分別進行瞬態瑞雷波探測處理，確定各測點到基巖面的測深基準坐標；

根據每次移動過程中檢波器組中各檢波器的實際位置坐標，分別獲取各測點各自對應的擬合曲線；

根據各測點各自對應的擬合曲線，分別對各測點的測深基準坐標進行校正處理，得到各測點的測深校正坐標。

可選地，所述獲取每次移動過程中檢波器組中多個檢波器的基準位置坐標，包括：

根據所述基準面的原點坐標、所述震源點的位置坐標、所述震源點到每次移動過程中檢波器組中離所述基準面的原點最近的檢波器的距離和所述檢波器組中各檢波器之間的距離，確定每次移動過程中檢波器組中各檢波器的基準位置坐標。

可選地，針對任一測點，所述在各測點的基準位置坐標處分別進行瞬態瑞雷波探測處理，確定各測點到基巖面的測深基準坐標，包括：

確定所述測點的測深基準坐標中的橫坐標與所述測點的基準位置坐標中的橫坐標相等；

采集所述測點對應的所述檢波器組中各檢波器的震動信號；