[發明專利]一種基于高階邊緣檢測算子的缺陷檢測方法在審
| 申請號: | 201710897859.0 | 申請日: | 2017-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN109584199A | 公開(公告)日: | 2019-04-05 |
| 發明(設計)人: | 歐陽光;池敏 | 申請(專利權)人: | 南京敏光視覺智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司: | 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 楊曉玲 |
| 地址: | 210019 江蘇省南*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 邊緣矩陣 二階梯度 算子 平方和 邊緣檢測算子 垂直梯度 缺陷檢測 水平梯度 開方 高階 細縫 垂直 面板圖像 破損 采集 圖像 | ||
本發明公開了一種基于高階邊緣檢測算子的缺陷檢測方法,包括以下步驟:采集面板圖像;計算圖像的水平梯度、垂直梯度、水平二階梯度算子、垂直二階梯度算子和混合二階梯度算子;計算水平梯度和垂直梯度的平方和開方為邊緣矩陣一,水平二階梯度算子和垂直二階梯度算子的平方和加2倍的混合二階梯度算子再開方為邊緣矩陣二;邊緣矩陣一的一半加邊緣矩陣二的三分之一作為最終的邊緣矩陣;設定邊緣閾值,若邊緣矩陣中有數值大于所設定的閾值,則存在細縫區域,該面板為破損件;若邊緣矩陣中的數值均小于所設定的閾值,則不存在細縫區域,該面板完好。
技術領域
本發明涉及缺陷檢測技術領域,尤其是涉及一種基于高階邊緣檢測算子的缺陷檢測方法。
背景技術
隨著人們生活水平的不斷提高以及電子設備不斷普及,電子設備的生產出貨量十分巨大,如何實現電子設備產品生產過程中缺陷的自動化檢測,成為了各大廠商關注的問題之一。
其中電子設備玻璃蓋板的生產工藝步驟多,存在很多問題,改進空間較大,主要存在的問題有:
目前常用的印刷缺陷檢測方法通常采用的多是基于玻璃蓋板圖像的邊緣提取算法,再分析輪廓及邊緣的平整性和凹凸區域,但現有的技術還無法檢出細微的缺陷,因為在細微的缺陷附近,常用的邊緣提取算法無法準確的提取出邊緣。
另外,現有的工藝是采用終檢時人工目檢,無法有效的預防因機器故障或破損導致的玻璃蓋板破損,從破損第一次發生到終檢時人工查出,已生產出一系列的破損件,無法及時調整,造成了廠商的損失和浪費。
發明內容
發明目的:為了克服現有技術中存在的不足,本發明提供一種基于高階邊緣檢測算子的缺陷檢測方法,能夠實現破損件的自動化檢測。
技術方案:為實現上述目的,本發明采用的技術方案為:
一種基于高階邊緣檢測算子的缺陷檢測方法,包括以下步驟:
步驟1)采集面板圖像;
步驟2)計算圖像的水平梯度、垂直梯度、水平二階梯度算子、垂直二階梯度算子和混合二階梯度算子;
步驟3)計算水平梯度和垂直梯度的平方和開方為邊緣矩陣一,水平二階梯度算子和垂直二階梯度算子的平方和加2倍的混合二階梯度算子再開方為邊緣矩陣二;
步驟4)邊緣矩陣一的一半加邊緣矩陣二的三分之一作為最終的邊緣矩陣;
步驟5)設定邊緣閾值,若邊緣矩陣中有數值大于所設定的閾值,則存在細縫區域,該面板為破損件;若邊緣矩陣中的數值均小于所設定的閾值,則不存在細縫區域,該面板完好。
優選的:將與當前圖像相差一列的圖像最右一列補零列,得參考圖像一,則所述水平梯度即將當前圖像像素值減去參考圖像一的像素值。
優選的:將與當前圖像相差一行的圖像最下一行補零行,得參考圖像二,則所述垂直梯度即將當前圖像像素值減去參考圖像二的像素值。
優選的:水平二階梯度算子即重復求兩次水平梯度。
優選的:垂直二階梯度算子即重復求兩次垂直梯度。
優選的:混合二階梯度算子即先求一次水平梯度,再求一次垂直梯度。
優選的:所述邊緣閾值設定為0.6。
本發明相比現有技術,具有以下有益效果:
1.能夠實現自動化檢測,避免了人工終檢帶來的檢驗不及時的缺點。
2.通過利用高階的邊緣檢測算子,避免了將細微之處忽略的缺陷,能準確檢驗到細縫等缺陷處,檢測精度有所提高。
附圖說明
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