[發(fā)明專利]一種基于光學(xué)三維測量的耳廓缺損測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710897396.8
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107773246B
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李中偉;詹國敏;鐘凱
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢惟景三維科技有限公司
• 主分類號: A61B5/107
• 分類號: A61B5/107
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務(wù)所(普通合伙) 42224
• 代理人: 方可

1.一種基于光學(xué)三維測量的耳廓缺損測量方法，其特征在于，包括下述步驟：

S101、利用結(jié)構(gòu)光三維測量方法分別獲取測試對象的兩側(cè)耳廓完整點云數(shù)據(jù)；

S102、將測量得到的點云數(shù)據(jù)拼合，以將點云數(shù)據(jù)統(tǒng)一到同一個三維坐標系下；

S103、在三維坐標系下對拼合得到的耳廓點云數(shù)據(jù)進行分割，將完整的耳廓從點云數(shù)據(jù)中分割出來；

S104、將分割出來的點云數(shù)據(jù)投影至平面以創(chuàng)建外輪廓，獲取點云投影面積并通過迭代優(yōu)化得到點云最大投影面積；

S105、將測試對象兩側(cè)耳廓的最大投影面積相除，得到耳廓缺損比例；

其中，所述步驟S104包括求解點云投影面積的步驟和迭代優(yōu)化得到最大投影面積的步驟；

求解點云投影面積的方法具體包括如下子步驟：

（a.1）將分割出來的點云數(shù)據(jù)投影至XOY平面，獲得平面點云；

（a.2）提取平面點云的外包圍輪廓；

（a.3）采用下式計算外包圍輪廓多邊形的面積，即為對應(yīng)投影方向的投影面積；

其中，i為外包圍點的編號， N為外包圍點的數(shù)量，分別是第個外包圍點的X軸方向、Y軸方向坐標，為外包圍多邊形面積。

2.如權(quán)利要求1所述的耳廓缺損測量方法，其特征在于，采用面結(jié)構(gòu)光三維測量方法對測試對象的耳廓進行完整的測量，獲取兩側(cè)耳廓完整的點云數(shù)據(jù)。

3.如權(quán)利要求1或2所述的耳廓缺損測量方法，其特征在于，點云拼合采用基于標志點識別的自動拼合或無標志點的自動拼接方法。

4.如權(quán)利要求1或2所述的耳廓缺損測量方法，其特征在于，

迭代優(yōu)化得到最大投影面積的步驟包括如下子步驟：

（b.1）將XOY平面的X、Y軸旋轉(zhuǎn)角定義為，用遺傳算法的思想對進行交叉遺傳與突變操作；

（b.2）執(zhí)行步驟（a.1）~（a.3）；

（b.3）重復(fù)執(zhí)行步驟（b.1）~（b.2），直到求解的投影面積滿足收斂條件，得到測試對象兩側(cè)耳廓的最大投影面積。

5.如權(quán)利要求4所述的耳廓缺損測量方法，其特征在于，所述收斂條件為達到預(yù)設(shè)的梯度閾值或達到最大迭代次數(shù)。

6.如權(quán)利要求5所述的耳廓缺損測量方法，其特征在于，所述最大迭代次數(shù)的值為100。