[發明專利]一種封框膠檢測系統及該系統包含的各裝置和檢測方法

有效

• 申請號: 201710897221.7
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107515484B
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發明（設計）人: 郝延順;龐魯;包日瑪
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1339;G01B21/00
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本發明公開了一種封框膠檢測系統及該系統包含的各裝置和檢測方法，涉及封框膠檢測技術領域，可簡化因液晶泄漏問題而需調整基板上封框膠量的操作。本發明一種封框膠涂布檢查機，包括通信模塊，通信模塊用于接收由可視檢查機發送的顯示面板中液晶泄漏的位置信息；檢測模塊，檢測模塊用于檢測基板上待檢位置的封框膠，得到涂膠檢測結果，待檢位置包括液晶泄漏的位置信息指示的位置；處理模塊，處理模塊用于獲取涂膠檢測結果與涂膠參考值之間的差值；通信模塊還用于在差值表征待檢位置的封框膠涂布不良的情況下，將用于指示待檢位置中封框膠涂布不良的位置的信息、以及封框膠涂布不良的位置對應的差值或涂膠檢測結果發給封框膠涂布機。

技術領域

本發明涉及封框膠檢測技術領域，尤其涉及一種封框膠檢測系統及該系統包含的各裝置和檢測方法。

背景技術

TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜場效應晶體管液晶顯示器)產品的廣泛應用于電子產品中，如薄膜晶體管液晶顯示面板，具有高分辨率、高色彩飽和度、反應速度快、高開口率等優點，廣泛應用于手機、平板電腦等電子產品。

現有技術中采用ODF(One Drop Fillling，液晶滴入制程)工藝制作顯示面板，如在TFT基板(Thin Film Transistor，陣列基板)上滴液晶，在CF基板(Color Filter，彩膜基板)通過封框膠涂布機(SD，Seal Dispenser)上涂覆封框膠，再將TFT基板和CF基板對盒形成Cell(顯示面板)。

在實際生產線上，操作人員需通過封框膠涂布檢查機(SI，Seal Inspection)檢查基板上封框膠的涂覆情況，當基板上的封框膠出現肥大、斷膠和膠窄時，需操作人員對檢測結果進行分析，以對封框膠涂布機的涂膠速度進行調整；當TFT基板和CF基板對盒后形成顯示面板，還需操作人員通過可視檢查機(VI，Visual Inspection)檢測液晶泄漏(LC Leak，Liquid Crystal Leak)結果，并根據液晶泄漏檢測結果對封框膠涂布機的涂膠速度進行調整。在上述對CF基板和顯示面板的檢查過程中，操作人員不僅需要時刻觀察封框膠涂布檢查機的數據，而且需要時刻觀察可視檢查機，并對兩者的結果進行分析，再在封框膠涂布機進行相應的調整。因此，封框膠檢查所需的人員較多，對操作人員的經驗有一定的要求，操作較麻煩，工作效率低。

發明內容

本發明的實施例提供一種封框膠檢測系統及該系統包含的各裝置和檢測方法，可簡化因液晶泄漏問題而需調整基板上封框膠量的操作。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

一種封框膠涂布檢查機，包括：通信模塊，所述通信模塊用于接收由可視檢查機發送的顯示面板中液晶泄漏的位置信息；檢測模塊，所述檢測模塊用于檢測基板上待檢位置的封框膠，得到涂膠檢測結果，所述待檢位置包括所述液晶泄漏的位置信息指示的位置；處理模塊，所述處理模塊用于獲取所述涂膠檢測結果與涂膠參考值之間的差值；所述通信模塊還用于在所述差值表征所述待檢位置的封框膠涂布不良的情況下，將用于指示所述待檢位置中封框膠涂布不良的位置的信息、以及所述封框膠涂布不良的位置對應的所述差值或所述涂膠檢測結果發給封框膠涂布機。

本發明實施例還包括一種封框膠涂布機，包括用于承載基板的承載臺和吐膠的噴嘴，其特征在于，還包括：接收模塊，所述接收模塊用于接收封框膠涂布檢查機發出的用于指示基板上待檢位置中封框膠涂布不良的位置的信息、以及所述封框膠涂布不良的位置對應的差值或涂膠檢測結果；控制模塊，所述控制模塊可根據所述封框膠涂布不良的位置對應的差值或涂膠檢測結果，調整基板上封框膠涂布不良的位置封框膠的噴涂量。

進一步地，所述控制模塊用于調整所述承載臺的運行速度或所述噴嘴吐膠的速度。

進一步地，所述噴嘴內設有吐膠腔，所述吐膠腔內設有壓膠桿，所述壓膠桿可沿上下方向往復移動。