[發明專利]一種補償AMOLED像素差異的方法有效
| 申請號: | 201710897163.8 | 申請日: | 2017-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN107610648B | 公開(公告)日: | 2019-08-02 |
| 發明(設計)人: | 曾玉超;梁鵬飛 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/3225 | 分類號: | G09G3/3225 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 鐘子敏 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 補償 amoled 像素 差異 方法 | ||
1.一種補償AMOLED像素差異的方法,所述補償AMOLED像素差異的方法方法包括對參考像素的驅動電壓值和驅動電流值進行擬合,根據擬合結果得到所述參考像素對應的驅動薄膜晶體管的閾值電壓、系數,其特征在于,所述補償AMOLED像素差異的方法方法還包括如下步驟:
根據所述擬合結果得到所述參考像素對應的驅動薄膜晶體管的驅動電流計算公式中的冪次值;
獲取其他像素對應的驅動薄膜晶體管的閾值電壓相對于參考像素對應的驅動薄膜晶體管閾值電壓的閾值變化量及其他像素對應的驅動薄膜晶體管的系數相對于參考像素對應的驅動薄膜晶體管系數的系數比值;
根據所述閾值變化量、系數比值及驅動電流計算公式中的冪次值對其他像素的差異進行補償。
2.根據權利要求1所述的一種補償AMOLED像素差異的方法,其特征在于,所述閾值電壓、系數以及驅動電流計算公式中的冪次值是一個參考像素的閾值電壓、系數以及驅動電流計算公式中的冪次值。
3.根據權利要求1所述的一種補償AMOLED像素差異的方法,其特征在于,所述閾值電壓、系數以及驅動電流計算公式中的冪次值是所述多個參考像素的閾值電壓的平均值、系數的平均值以及驅動電流計算公式中的冪次值的平均值。
4.根據權利要求1所述的一種補償AMOLED像素差異的方法,其特征在于,所述對參考像素的驅動電壓值和驅動電流值進行擬合,根據擬合結果得到所述參考像素點對應的驅動薄膜晶體管的閾值電壓、系數以及驅動電流計算公式中的冪次值包括如下具體步驟:
對參考像素驅動薄膜晶體管的柵極和源極分別輸入固定電位;
切斷柵極和源極的電位輸入,得到一組驅動電壓值和驅動電流值;
改變柵極的輸入電位值,重復上述步驟,得到多組驅動電壓值與驅動電流值;
對所述多組驅動電壓值和驅動電流值進行曲線擬合,根據擬合結果得到所述參考像素對應的驅動薄膜晶體管的閾值電壓、系數以及驅動電流計算公式中的冪次值。
5.根據權利要求1所述的一種補償AMOLED像素差異的方法,其特征在于,所述獲取其他像素對應的驅動薄膜晶體管的閾值電壓相對于參考像素對應的驅動薄膜晶體管閾值電壓的閾值變化量包括如下具體步驟:
對每一像素驅動薄膜晶體管的柵極和源極分別進行相同電位值的電位輸入;
斷開源極的電位輸入,經相同時間后,獲得每一像素的源極電位值;
將參考像素的源極電位值與其他像素的源極電位值相減后得到源極電位值的差值,即為所述閾值變化量。
6.根據權利要求5所述的一種補償AMOLED像素差異的方法,其特征在于,所述獲取其他像素對應的驅動薄膜晶體管的系數相對于參考像素對應的驅動薄膜晶體管系數的系數比值包括如下具體步驟:
對每一像素驅動薄膜晶體管的柵極和源極分別進行電位輸入,其中,每一像素柵極輸入的電位值為數據電壓值與所述閾值變化量之和,每一像素源級電位值相同;
切斷柵極和源極的電位輸入,經相同時間后,獲得每一像素點的源極電位值,通過公式Kref/K=(Vsampref-Vcm)/(Vsamp-Vcm)計算得到所述系數比值,其中,Kref/K代表所述系數比值,Vcm代表輸入的源極電位值,Vsampref和Vsamp分別代表參考像素和其他像素切斷電位輸入且經相同時間后獲得的源極電位值。
7.根據權利要求6所述的一種補償AMOLED像素差異的方法,其特征在于,所述根據所述閾值變化量、系數比值及驅動電流計算公式中的冪次值對其他像素的差異進行補償包括如下具體步驟:
對其他像素對應的驅動薄膜晶體管系數的差異進行補償,補償公式為:其中,x為驅動電流計算公式中的冪次值,Vgs為補償前的驅動電壓值;
對其他像素對應的驅動薄膜晶體管閾值電壓的差異進行補償,補償公式為:Vgs″=Vgs′+Vthref+ΔVth,其中,ΔVth為所述閾值變化量,Vthref為參考像素的閾值電壓,Vgs’為進行系數差異補償后的驅動電壓值。
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