[發明專利]觸控檢測芯片、觸控面板及觸控檢測方法

有效

• 申請號: 201710897023.0
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107506091B
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 徐帥;張鄭欣
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

1.一種觸控檢測方法，包括：

檢測多個觸控單元的信號量；

將所述多個觸控單元劃分為多個觸控檢測組；

對每一個所述觸控檢測組中的觸控單元上的信號量作求和運算，以獲取所述多個觸控檢測組的信號量之和；

從所述多個觸控檢測組中確定候選觸控檢測組，所述候選觸控檢測組為信號量之和大于第一預設閾值的觸控檢測組；

判斷所述候選觸控檢測組中的每一個觸控單元的信號量是否大于所述第一預設閾值，并將信號量大于所述第一預設閾值的觸控單元確定為候選觸控單元；以及

根據所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量，從所述候選觸控單元中確定目標觸控單元。

2.根據權利要求1所述的觸控檢測方法，其中，所述檢測多個觸控單元的信號量包括：

向所述多個觸控單元分別發送脈沖檢測信號，并檢測所述觸控單元的電容值的變化量，其中，所述多個觸控單元中的信號量包括所述多個觸控單元的電容值的變化量。

3.根據權利要求1所述的觸控檢測方法，其中，所述將所述多個觸控單元劃分為多個觸控檢測組包括：

將所述多個觸控單元按照行或按照列劃分為多個觸控檢測組。

4.根據權利要求1所述的觸控檢測方法，其中，所述根據所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量，從所述候選觸控單元中確定目標觸控單元包括：

判斷所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量是否大于第二預設閾值；

如果所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量大于第二預設閾值，確定所述候選觸控單元為所述目標觸控單元。

5.根據權利要求1-4任一所述的觸控檢測方法，還包括：

根據所述目標觸控單元，確定單點觸控或多點觸控的位置。

6.一種觸控檢測芯片，包括處理器和存儲器，所述存儲器存儲有可執行指令，所述可執行指令被所述處理器執行時進行如下操作：

檢測多個觸控單元的信號量；

將所述多個觸控單元劃分為多個觸控檢測組；

對每一個所述觸控檢測組中的觸控單元上的信號量作求和運算，以獲取所述多個觸控檢測組的信號量之和；

從所述多個觸控檢測組中確定候選觸控檢測組，所述候選觸控檢測組為信號量之和大于第一預設閾值的觸控檢測組；

判斷所述候選觸控檢測組中的每一個觸控單元的信號量是否大于所述第一預設閾值，并將信號量大于所述第一預設閾值的觸控單元確定為候選觸控單元；以及

根據所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量，從所述候選觸控單元中確定目標觸控單元。

7.根據權利要求6所述的觸控檢測芯片，其中，所述檢測多個觸控單元的信號量包括如下操作：

向所述多個觸控單元分別發送脈沖檢測信號，并檢測所述觸控單元的電容值的變化量，其中，所述多個觸控單元中的信號量包括所述多個觸控單元的電容值的變化量。

8.根據權利要求6所述的觸控檢測芯片，其中，所述將所述多個觸控單元劃分為多個觸控檢測組包括如下操作：

將所述多個觸控單元按照行或按照列劃分為多個觸控檢測組。

9.根據權利要求6所述的觸控檢測芯片，其中，所述根據所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量，從所述候選觸控單元中確定目標觸控單元包括如下操作：

判斷所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量是否大于第二預設閾值；

如果所述候選觸控單元的相鄰觸控單元的信號量大于第二預設閾值，確定所述候選觸控單元為所述目標觸控單元。

10.根據權利要求6-9任一所述的觸控檢測芯片，其中，所述可執行指令被所述處理器執行時還進行如下操作：

根據所述目標觸控單元，確定單點觸控或多點觸控的位置。

11.一種觸控面板，包括權利要求6-10任一所述的觸控檢測芯片、多個觸控單元以及多條觸控電極線，其中，

所述多條觸控電極線分別和所述多個觸控單元電連接。