[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法、設(shè)備、系統(tǒng)及可讀存儲介質(zhì)

在審

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• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107729769A
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙輝宇;李詩逸;古亮;吳大立
• 申請（專利權(quán)）人: 深信服科技股份有限公司
• 主分類號: G06F21/64
• 分類號: G06F21/64
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所44287
• 代理人: 胡海國

1.一種數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法包括以下步驟：

讀取當(dāng)前采樣分析系統(tǒng)輸出的采樣方式和采樣率；其中，所述采樣方式和采樣率為所述采樣分析系統(tǒng)基于進(jìn)行校驗和處理所需的計算能力和存儲能力分析所確定；

根據(jù)所述采樣方式和采樣率，對寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，并生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和，以供用于在讀取該采樣數(shù)據(jù)時進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性驗證。

2.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述采樣方式和采樣率，對寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，并生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和包括：

當(dāng)所述采樣方式為時間采樣且為第n次采樣時，獲取本次對寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣的初始時間t₀，其中，n為正整數(shù)；

監(jiān)測是否存在寫IO操作；

當(dāng)監(jiān)測到寫IO操作時，獲取當(dāng)前時間t_n，并判斷當(dāng)前時間t_n與初始時間t₀之間的差值t_差是否大于或等于所述采樣率；

若是，則對當(dāng)前寫IO操作所對應(yīng)的寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，得到采樣數(shù)據(jù)，并生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和；

當(dāng)本次采樣完成時，將當(dāng)前時間t_n設(shè)置為下一次對寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣的初始時間t₀。

3.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述采樣方式和采樣率，對寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，并生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和包括：

當(dāng)所述采樣方式為IO采樣時，初始化計數(shù)器，并監(jiān)測是否存在寫IO操作；

當(dāng)監(jiān)測到寫IO操作時，獲取計數(shù)器的當(dāng)前計數(shù)值N，并對當(dāng)前計數(shù)值N與所述采樣率進(jìn)行取模運算，得到取模運算結(jié)果；

判斷所述取模運算結(jié)果是否為零；

若所述取模運算結(jié)果為零，則對當(dāng)前寫IO操作或者包括當(dāng)前寫IO操作在內(nèi)的連續(xù)多個寫IO操作所對應(yīng)的寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，得到采樣數(shù)據(jù)，并生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和，繼續(xù)執(zhí)行監(jiān)測寫IO操作。

4.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述采樣方式和采樣率，對寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，并生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和包括：

當(dāng)所述采樣方式為空間采樣時，監(jiān)測是否存在寫IO操作；

當(dāng)監(jiān)測到寫IO操作時，獲取當(dāng)前寫IO操作所對應(yīng)的數(shù)據(jù)存儲偏移量，并對當(dāng)前存儲偏移量與所述采樣率進(jìn)行取模運算，得到取模運算結(jié)果；

判斷所述取模運算結(jié)果是否為零；

若所述取模運算結(jié)果為零，則對當(dāng)前寫IO操作所對應(yīng)的寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，得到采樣數(shù)據(jù)，并生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和。

5.如權(quán)利要求2-4中任一所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法還包括：

在生成采樣數(shù)據(jù)的校驗和時，若所述采樣方式為時間采樣或IO采樣，則生成校驗和標(biāo)識，并在寫入采樣數(shù)據(jù)時，將該采樣數(shù)據(jù)的校驗和、或者校驗和與校驗和標(biāo)識一同寫入。

6.如權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法還包括：

讀取存儲的數(shù)據(jù)D，或者還讀取該數(shù)據(jù)D的校驗數(shù)據(jù)，其中，所述校驗數(shù)據(jù)至少包括該數(shù)據(jù)D的校驗和C，或者還包括校驗和標(biāo)識F；

基于讀取的數(shù)據(jù)，判斷數(shù)據(jù)D是否為采樣數(shù)據(jù)；

若數(shù)據(jù)D為采樣數(shù)據(jù)，則計算該數(shù)據(jù)D的當(dāng)前校驗和C1，并判斷校驗和C1是否等于校驗和C；

若校驗和C1等于校驗和C，則返回數(shù)據(jù)D，否則報錯；

若數(shù)據(jù)D為非采樣數(shù)據(jù)，則返回數(shù)據(jù)D。

7.一種數(shù)據(jù)完整性保護(hù)設(shè)備，其特征在于，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)程序，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)程序被所述處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法的步驟。

8.一種數(shù)據(jù)完整性保護(hù)系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)系統(tǒng)包括權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)設(shè)備，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)系統(tǒng)還包括采樣分析系統(tǒng)；

所述采樣分析系統(tǒng)用于：接收用于進(jìn)行校驗和處理所需的計算能力和存儲能力；分析確定與所述計算能力和存儲能力匹配的采樣方式和采樣率，并將所述采樣方式和采樣率輸出到所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)設(shè)備。

9.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)上存儲有數(shù)據(jù)完整性保護(hù)程序，所述數(shù)據(jù)完整性保護(hù)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的數(shù)據(jù)完整性保護(hù)方法的步驟。