[發(fā)明專利]低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710895393.0 | 申請日: | 2017-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN109584189A | 公開(公告)日: | 2019-04-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 邸男 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號: | G06T5/40 | 分類號: | G06T5/40;G06T5/00 |
| 代理公司: | 深圳市科進(jìn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 趙勍毅 |
| 地址: | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 直方圖 灰度 圖像 低對比度圖像 灰度查找表 存儲 輸入圖像 圖像細(xì)節(jié) 增強(qiáng)處理 像素點(diǎn) 非零 改進(jìn) 統(tǒng)計 取出 查找 | ||
1.一種低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:輸入圖像,并存儲所述圖像的灰度值;
步驟2:統(tǒng)計所述圖像的直方圖H(i),其中,i取值為0~255;
步驟3:將所述直方圖H(i)中的非零分量取出,并存儲為HF(j),其中,HF(j)=H(k)H(k)≠0,k取值為0~255,j取值為0~N,N為直方圖H(i)中非零分量的個數(shù);
步驟4:統(tǒng)計HF(j)中的局部極大值HF(p),p的取值為0~M,M為局部極大值的個數(shù);
步驟5:計算所有局部極大值的均值,得到平臺閾值T;
步驟6:根據(jù)所述平臺閾值T計算改進(jìn)后的平臺直方圖H′F(i);
步驟7:根據(jù)改進(jìn)后的平臺直方圖H′F(i),計算得到灰度查找表P(k);
步驟8:根據(jù)得到的灰度查找表P(k),查找所述圖像各像素點(diǎn)對應(yīng)的灰度,從而完成對所述圖像的增強(qiáng)處理。
2.如權(quán)利要求1所述的低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)方法,其特征在于,所述步驟5中,計算所有局部極大值的均值,得到平臺閾值T,公式為:
3.如權(quán)利要求2所述的低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)方法,其特征在于,所述步驟6中:根據(jù)所述平臺閾值T計算改進(jìn)后的平臺直方圖H′F(i),具體公式為:
4.如權(quán)利要求1所述的低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)方法,其特征在于,所述步驟7中:根據(jù)得到的灰度查找表P(k),查找輸入圖像各像素點(diǎn)對應(yīng)的灰度,具體公式為:
5.一種低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)裝置,其特征在于,包括以下模塊:
圖像信息輸入模塊,用于輸入圖像并存儲所述圖像的灰度值;
圖像直方圖統(tǒng)計模塊,用于統(tǒng)計所述圖像的直方圖H(i),其中,i取值為0~255;
非零分量計算模塊,用于將所述直方圖H(i)中的非零分量取出,并存儲為HF(j),其中,HF(j)=H(k)H(k)≠0,k取值為0~255,j取值為0~N,N為直方圖H(i)中非零分量的個數(shù);
局部極大值計算模塊,用于統(tǒng)計HF(j)中的局部極大值HF(p),p的取值為0~M,M為局部極大值的個數(shù);
平臺閾值計算模塊,用于計算所有局部極大值的均值,得到平臺閾值T;
改進(jìn)直方圖計算模塊,用于根據(jù)所述平臺閾值T計算改進(jìn)后的平臺直方圖H′F(i);
灰度查找表計算模塊,用于根據(jù)改進(jìn)后的平臺直方圖H′F(i),計算得到灰度查找表P(k);
圖像處理模塊,用于根據(jù)所述灰度查找表P(k),查找所述圖像各像素點(diǎn)對應(yīng)的灰度,完成對所述圖像的增強(qiáng)處理。
6.如權(quán)利要求5所述的低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)裝置,其特征在于,所述低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)裝置為32bit定點(diǎn),1GHz時鐘的TMS320C6416定點(diǎn)數(shù)字信號處理器。
7.如權(quán)利要求5所述的低對比度圖像的實(shí)時增強(qiáng)裝置,其特征在于,所述圖像為1024×1024大小8位的數(shù)字圖像。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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