[發明專利]一種基于圖像處理的軸向漏磁信號缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201710895124.4
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107884471B
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 張珊;魏寧;鄭莉;劉思嬌;李娜
• 申請（專利權）人: 北京華航無線電測量研究所
• 主分類號: G01N27/83
• 分類號: G01N27/83;G06K9/00
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 張焱;武悅

1.一種基于圖像處理的軸向漏磁信號缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

步驟一：輸入原始漏磁軸向陣列數據；

步驟二：對步驟一輸入的原始漏磁軸向陣列數據進行預處理；

步驟三：使用恒虛警率檢測方法對預處理后的原始漏磁軸向陣列數據進行檢測，并定位出待檢測的數據；

步驟四：檢測所述待檢測的數據中的小缺陷；

步驟五：將所述小缺陷作為檢測結果進行輸出；

所述恒虛警率檢測方法具體為：

(1)計算預處理后的原始漏磁軸向陣列數據的均值和方差；

(2)將預處理后的原始漏磁軸向陣列數據根據方差閾值進行分割，即如果預處理后的原始漏磁軸向陣列數據大于閾值，則將預處理后的原始漏磁軸向陣列數據設為1，否則設為0；

(3)對分割后的數據按照預定的方向進行累加，根據累加結果的幅度和寬度分別與幅度閾值和寬度閾值做比較，將滿足條件的數據作為待檢測的數據。

2.如權利要求1所述的基于圖像處理的軸向漏磁信號缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟二中的預處理為去噪。

3.如權利要求2所述的基于圖像處理的軸向漏磁信號缺陷檢測方法，其特征在于，所述去噪具體為均值濾波或中值濾波。

4.如權利要求1-3中任一項所述的基于圖像處理的軸向漏磁信號缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟四：檢測所述待檢測的數據中的小缺陷具體包括：將待檢測的數據與預定的缺陷閾值作比較，將大于閾值的待檢測數據作為檢測出的小缺陷。

5.如權利要求4所述的基于圖像處理的軸向漏磁信號缺陷檢測方法，其特征在于，所述將待檢測的數據與預定的缺陷閾值作比較，將大于閾值的待檢測數據作為檢測出的小缺陷具體包括：

將待檢測的數據與預定的缺陷閾值作比較，如果待檢測的數據大于預定的缺陷閾值，則將待檢測的數據設為1，否則設為0；將所有值為1的數據作為檢測出的小缺陷。