[發明專利]一種角反射體自動識別方法

有效

• 申請號: 201710895121.0
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107742298B
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 張品;張立平;孫長燕;孟祥杰
• 申請（專利權）人: 北京華航無線電測量研究所
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/00;G06T7/60
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 胡時冶;張春

1.一種角反射體自動識別方法，其特征在于，所述方法包括：

步驟1：輸入待處理的感興趣圖像；

步驟2：對所述感興趣圖像求取sobel水平梯度信息，并對所述sobel水平梯度信息進行二值化，形成特征二值圖；

步驟3：根據遙測數據和角反尺寸，獲取在圖像中的角反成像大小；

步驟4：根據角反成像大小，在特征二值圖上進行滑窗搜索，獲取包含梯度信息最大的潛在區域；

步驟5：將所述潛在區域進行外擴形成擴展區域；

步驟6：設計窗口模板，在所述擴展區域內遍歷統計內外區域的特征點分布情況，取內外特征數比值最小的區域作為待測圖像；

步驟7：在待測圖像內，根據每個角度單位下的特征數判斷感興趣圖像中的待測目標是否為角反射體。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟1中，所述待處理的感興趣圖像為I(x,y)，其中，x為橫坐標，y為縱坐標。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述步驟2中，感興趣圖像I(x,y)的sobel水平梯度計算公式為

G(x,y)＝(I(x+1,y-1)+2*I(x+1,y)+I(x+1,y+1))

-(I(x-1,y-1)+2*I(x-1,y)+I(x-1,y+1))。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟2中，對所述sobel水平梯度信息進行二值化，形成特征二值圖，具體為：取水平梯度的最大值和最小值之和的一半作為閾值t，大于該閾值t的取1，小于該閾值t的取0。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟3：根據遙測數據和角反尺寸，獲取角反在圖像中的成像大小m*n，具體包括：

角反成像大小的計算公式為

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟4：根據角反成像大小m*n，在特征二值圖上滑窗搜索，獲取包含梯度信息最大的潛在區域；具體包括：

在特征二值圖上遍歷滑窗搜索，統計每個像素在角反成像大小m*n鄰域內的特征數之和，其最大值所在的區域就是包含梯度信息最大的潛在區域。

7.如權利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述步驟5：將所述潛在區域進行外擴形成擴展區域；具體包括：將所述潛在區域左右各外擴k倍，形成擴展區域。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述步驟5：將所述潛在區域進行外擴形成擴展區域；具體包括：擴展區域的大小為p*q，其中p＝(1+k)*m，q＝(1+k)*n。

9.如權利要求1-6、8中任一項所述的方法，其特征在于，所述步驟7：在待測圖像內，根據每個角度單位下的特征數判斷感興趣圖像中的待測目標是否為角反射體，具體包括：在待測圖像內，以圖像中心點為中心，在一定半徑范圍內進行角度直方圖統計，計算每個角度單位下的特征數，若特征數為0的角度單位個數小于角反射體閾值，則判定其為角反射體。