[發明專利]一種存儲器壞點管理的實現方法

在審

• 申請號: 201710895006.3
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107908506A
• 公開（公告）日: 2018-04-13
• 發明（設計）人: 彭永林
• 申請（專利權）人: 芯海科技（深圳）股份有限公司
• 主分類號: G06F11/20
• 分類號: G06F11/20;G11C29/00
• 代理公司: 深圳市凱達知識產權事務所44256
• 代理人: 劉大彎

1.一種存儲器壞點管理的實現方法，其特征在于該實現方法首先在存儲器開辟一個壞點管理區和一個備用數據區，實現步驟如下：

101、在燒寫器燒寫過程中，芯片自動實現判斷存儲器地址是否失效而無法保存數據，同時把此處的地址記錄下來，保存到壞點管理區；

102、芯片判斷壞點之后，把此時需要燒寫的數據燒寫到備用數據區，則備用數據區地址代替了壞點地址，實現壞點管理的目的；

103、芯片上電啟動時，必須先加載壞點管理區，以便在CPU運行時，實時判斷程序取指地址是否等于壞點；

104、CPU運行時，實時判斷程序取指地址是否等于壞點，及時把壞點替換為備用數據區地址，使得CPU取出正確的程序數據，芯片程序正常運行。

2.如權利要求1所述的存儲器壞點管理的實現方法，其特征在于具體實現的控制流程如下：

S1、燒寫器發送燒寫命令；

S2、啟動燒寫模式，進行自動燒寫；外部燒寫器按照時序對芯片存儲器進行燒寫，芯片自動實現燒寫；

S3、芯片燒寫結束后，芯片自動開始對當前地址進行一次讀存儲器，校驗數據是否等于需要燒寫的數據，判斷是否已經正確燒寫數據到存儲器；

S4、如果第一次讀自校驗不成功，則芯片自動開始對當前地址燒寫第二次燒寫，燒寫完再進行一次讀自校驗；

S5、如果第二次讀自校驗不成功，則把當前地址認定為壞點，把其燒寫進存儲器的失效地址區，把當前需要燒寫的數據燒寫進存儲器的備用數據區；

S6、把燒寫結果保存到寄存器，同時壞點計數器加1，記錄下壞點個數；

S7、芯片燒寫結束后，會有一個結束標志位，外部燒寫器可監控此結束標志位，進行下一步的操作；

S8、重復S1步到S7步，直到整個需要燒寫的程序數據燒寫完畢。

3.如權利要求2所述的存儲器壞點管理的實現方法，其特征在于該方法還包括有：

S9、燒寫器把程序數據燒寫完畢之后，代表著如果有存在壞點，都已經更新到壞點管理區，數據更新到備用數據區；

S10、芯片設計中需要在芯片上電的時候，加載壞點管理區，把所有的壞點保存到寄存器；

S11、芯片上電程序運行，程序運行過程中，芯片設計加入判斷機制，實時判斷程序取指地址是否等于壞點；

S12、程序運行到取指為壞點位置時，地址自動替換為備用數據區地址，進而讀取備用數據區數據，讓程序正常運行。

4.如權利要求3所述的存儲器壞點管理的實現方法，其特征在于所述壞點管理區和備用數據區設置為64個地址；燒寫結果4位寄存器，壞點計數器6位寄存器，燒寫結束標志位1位寄存器；讀自校驗，以及燒寫過程寄存器若干；上電加載壞點管理區所需寄存器64個。