[發明專利]一種測試用九針轉SFP接口電路

在審

• 申請號: 201710892733.4
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107783868A
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 向小偉;李耘;李航;吳賢松;王慶
• 申請（專利權）人: 武漢興思為光電科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司44372
• 代理人: 嚴泉玉

技術領域

本發明屬于光電測試技術領域，更具體地，涉及一種測試用九針轉SFP接口電路。

背景技術

針對光模式的測試，現在通常會分別有九針的模塊測試板和SFP模塊的測試板。每次更換被測對象的品種時需要重新連接各種接線，費時費力還有可能會接錯。并且更換后此時九針測試板也會閑置，得不到有效的利用。

發明內容

針對現有技術的以上缺陷或改進需求，本發明提供了一種測試用九針轉SFP接口電路，其目的在于實現測試用九針接口到SFP接口的轉接，由此解決現有技術中更換被測對象時需重新連線的技術問題。

為了實現上述目的，本發明提供了一種測試用九針轉SFP接口電路，包括九針接口和與其電連接的SFP接口，其中：

所述SFP接口的收發各二根差分信號線分別與九針接口的收發各二根差分信號線相連以傳輸數據信號；

所述SFP接口的LOS端口通過一個比較器連接到九針接口的SD端口，所述比較器用于對LOS信號進行反向；

所述SFP接口中的MOD-DEF1、MOD-DEF2和MOD-DEF0作為IIC接口的SCLK、SDATA和GND分別與JP1接口的P2、P3和P4相連接，并通過測試板上的接插件與外部IIC總線連接，提供測試與調試的IIC通道。

本發明的一個實施例中，所述SFP接口的Tx Fault端口與LED燈相連，所述LED燈用于指示Tx Fault信號狀態，亮燈為報錯，滅燈為模塊正常。

本發明的一個實施例中，所述SFP接口的MOD-DEF1端口通過第八電阻連接到VCCR，MOD-DEF2端口通過第七電阻連接到VCCR，MOD-DEF0接地。

本發明的一個實施例中，所述SFP接口的Tx Fault端口串聯連接LED燈和第五電阻然后接地，并且Tx Fault端口通過第四電阻連接到VCCT。

本發明的一個實施例中，所述SFP接口的TD-端口與九針接口的NTD端口相連，所述SFP接口的TD+端口與九針接口的TD端口相連，所述SFP接口的RD-端口與九針接口的NRD端口相連，所述SFP接口的RD+端口與九針接口的RD端口相連。

本發明的一個實施例中，所述SFP接口的LOS端口與九針接口的SD端口之間的比較器包括一個放大器，所述比較器的結構具體為：

所述放大器的輸出端與九針接口的SD端口相連；

所述放大器的正向輸入端通過第二電阻接地，并且還通過第一電阻連接到VCCR；

所述放大器的反向輸入端與SFP接口的LOS端口相連，并且還通過第三電阻連接到VCCR。

本發明的一個實施例中，所述SFP接口的TX Disable端口通過開關連接到VCCT，并且還通過第六電阻接地。

本發明的一個實施例中，所述九針接口的VCCT端口通過兩個并聯的第一電容和第二電容接地，所述九針接口的VCCR端口通過兩個并聯的第三電容和第四電容接地。

本發明的一個實施例中，所述SFP接口的VCCT端口通過兩個并聯的第一電容和第二電容接地，所述SFP接口的VCCR端口通過兩個并聯的第三電容和第四電容接地。

總體而言，通過本發明所構思的以上技術方案與現有技術相比，具有如下有益效果：

(1)本發明提供的測試用九針轉SFP接口電路，小巧方便，尺寸與九針測試接口模塊差不多大小，與九針測試板過過排針相連，使得更改測試平臺時只需加上或去掉子板就可以，不需要重新連線，所用時間短并且不會出錯連線錯誤的情況，并且有防呆處理沒有出錯的可能；提高了測試和生產效率，并且節約人力成本；

(2)本轉接電路可直接用于對SFP模塊進行測試，不用單獨制作SFP測試板，提高了測試板的利用效率，更是減少了SFP測試板的制作節約了生產成本。

附圖說明

圖1是本發明實施例中測試用九針轉SFP接口電路的電路結構示意圖；

圖2是本發明實施例中IIC端口連接電路的結構示意圖；

圖3是本發明實施例中TxDisable端口連接電路的結構示意圖；

圖4是本發明實施例中VCCT端口和VCCR端口連接電路的結構示意圖。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。此外，下面所描述的本發明各個實施方式中所涉及到的技術特征只要彼此之間未構成沖突就可以相互組合。