[發明專利]一種用于半導體測試裝置的旋轉機架

在審

• 申請號: 201710892723.0
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107607749A
• 公開（公告）日: 2018-01-19
• 發明（設計）人: 王浩;王剛;張陳濤;張偉
• 申請（專利權）人: 上海旻艾信息科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/26
• 代理公司: 南京申云知識產權代理事務所(普通合伙)32274
• 代理人: 王云

1.一種用于半導體測試裝置的旋轉機架，其特征在于：包括兩個平行放置的底座板(1)，兩個底座板(1)之間安裝有底座固定板(2)，且兩個底座板(1)上分別安裝有對應設置的底座立柱(3)；且兩側的底座立柱(3)上均安裝有橫向的連接底板(4)，而所述的連接底板(4)的外側端均安裝有一豎直放置的制動板(5)，兩側的制動板(5)的內側均安裝有旋轉軸承(6)，該旋轉軸承(6)中均安裝有旋轉軸(7)，兩側的旋轉軸(7)位置對應，而半導體測試機則安裝在兩端對應的旋轉軸(7)上，且兩側的制動板(5)上至少有一側還安裝有用于旋轉測試機的旋轉機構。

2.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試裝置的旋轉機架，其特征在于：所述的旋轉機構包括旋轉手輪(8)和行星減速器(9)；所述的行星減速器(9)固定安裝在制動板(5)的外側，所述的制動板(5)上設置有一安裝孔(51)，所述的旋轉軸(6)的位置與行星減速器(9)的輸出軸的位置相對應，且旋轉軸(6)從安裝孔(51)伸入與行星減速器(9)的輸出軸對接安裝成一體。

3.根據權利要求2所述的一種用于半導體測試裝置的旋轉機架，其特征在于：所述的制動板(5)的安裝孔(51)中還設置有一鎖緊圈(52)，該鎖緊圈(52)的一側安裝在安裝孔(51)的側壁上，而所述的旋轉軸(7)安裝在鎖緊圈(52)中，而鎖緊圈(52)的一側則設置有開口，且從該開口處延伸有兩塊橫向的鎖緊塊(53)，且上層的鎖緊塊(53)和安裝孔(51)的上孔壁設置有相對應的通孔(54)，而下層的鎖緊塊(53)上安裝有一鎖緊螺桿(55)，該鎖緊螺桿(54)豎直向上從上層的鎖緊塊(53)和安裝孔(51)的通孔(54)伸出到制動板(5)外部，且在鎖緊螺桿(54)的端部還安裝有鎖緊螺母(55)。

4.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試裝置的旋轉機架，其特征在于：所述的旋轉軸(7)的端部還安裝有連接圓盤(10)，連接圓盤(10)上還安裝有豎直連接板(11)。

5.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試裝置的旋轉機架，其特征在于：所述的底座板(1)上還設置有緩沖支架(12)。

6.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試裝置的旋轉機架，其特征在于：所述底座立柱(3)為伸縮式可調高度可固定位置的立柱。

7.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試裝置的旋轉機架，其特征在于：所述的行星減速器(9)的輸出傳動比為80:1。