[發明專利]一種多通道S參數的測量裝置及測量方法

有效

• 申請號: 201710892200.6
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107817368B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 曹寶華
• 申請（專利權）人: 南京捷希科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 馬魯晉;朱顯國

本發明公開了一種多通道S參數的測量裝置，該裝置位于二端口矢量網絡分析儀和待測器件之間，用于測量具備多個端口的器件，當端口數量為偶數時，該裝置包括兩個單刀N擲開關和N個雙刀雙擲開關DPDT，所述N≥2；當端口數量為奇數時，即端口數量為2N+1時，該裝置包括一個單刀N擲開關、一個單刀N+1擲開關和N個雙刀雙擲開關DPDT；每個雙刀雙擲開關包括兩個通路，單刀N擲開關包括N個輸入端和一個輸出端，單刀N擲開關的輸出端與二端口矢量網絡分析儀的一個端口相連，單刀N擲開關的每個輸入端均與對應的一個雙刀雙擲開關DPDT的一條通路連接，該通路的輸入端與待測件的一個端口相連。本發明的裝置結構簡單，成本低。

技術領域

本發明屬于射頻自動化測試領域，特別是一種多通道S參數的測量裝置及測量方法。

背景技術

隨著通信技術的發展，人們對通信器件性能的要求不斷提高，多端口器件的使用也日益普遍和頻繁。相應的，人們對多端口器件進行測試的需求也越來越多，對自動化測試設備的依賴性也越來越強。

目前業界普遍采用多端口矢量網絡分析儀(VNA)對多端口器件進行測試,多端口矢量網絡分析儀(VNA)是二/四端口，該儀器既能測量單端口網絡或兩端口網絡的各種參數幅值，又能測相位，矢量網絡分析儀能用史密斯圓圖顯示測試數據，便于工程應用和調試。矢量網絡分析儀功能很多，是射頻微波領域的萬用表，對使用者的專業技術要求比較高。

通常情況下，被測對象的端口都很多，例如，Massive MIMO天線，POI設備，多端口功分器。利用兩端口矢量網絡分析儀VNA對上述設備進行測試的時候，會有很多次的重復接線，每一次都要手動記錄測試結果，測試效率低下，測量一致性差。用兩端口矢量網絡分析儀VNA測試N端口器件的S參數，需要進行N*(N-1)/2次測量。例如，用兩端口矢量網絡分析儀VNA測試128端口器件的S參數，需要進行8128次測量。如果用傳統的設備進行測量，需要構建繁瑣的開關矩陣，如圖1所示，不僅測試成本高，而且效率低下，遠遠不能滿足現實的需求。并且現有技術中的測試方法比較繁瑣，時間消耗多，技術人員要根據現場的情況進行測試邏輯的生成，浪費了很多的時間。

還有些公司投入大量精力進行多端口矢量網絡分析儀的研發，通過增加網絡分析儀的輸入端口來增加測試效率，但是設備的成本非常高，實用性差。

因此，目前急需一種測試效率高、測試成本低的測試裝置和測量方法。

發明內容

本發明所解決的技術問題在于提供一種多通道S參數的測量裝置及測量方法。

實現本發明目的的技術解決方案為：一種多通道S參數的測量裝置，該裝置位于二端口矢量網絡分析儀和待測器件之間，用于測量具備多端口的器件；

當多端口器件的端口數為偶數時，即端口數量為2N時，所述N≥2，該裝置包括兩個單刀N擲開關和N個雙刀雙擲開關DPDT；每個雙刀雙擲開關包括兩個通路，每個單刀N擲開關均包括N個輸入端和一個輸出端，其中第一單刀N擲開關的輸出端與二端口矢量網絡分析儀的一個端口相連，第一單刀N擲開關的每個輸入端均與對應的一個雙刀雙擲開關DPDT的一條通路連接，該通路的輸入端與待測件的一個端口相連；第二單刀N擲開關的輸出端與二端口矢量網絡分析儀的另一個端口相連，第二單刀N擲開關的每個輸入端與對應的一個雙刀雙擲開關DPDT的另一條通路連接，該通路的輸入端與待測件的另一個端口相連；