[發明專利]一種答題卡填涂識別方法及系統

有效

• 申請號: 201710891639.7
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107506764B
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 余江健;余江杰
• 申請（專利權）人: 武漢天量數據技術有限公司
• 主分類號: G06K9/32
• 分類號: G06K9/32;G06T7/30
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立;朱毅

1.一種答題卡填涂識別方法，其特征在于，包括：

步驟1、獲取答題者的答題卡掃描圖，建立所述答題卡相對應的基準圖；

步驟2、根據所述答題卡的第一基線框、第一參數信息和直角坐標系，確定所述第一基線框在所述掃描圖中對應的第二基線框和所述掃描圖的第二參數信息；

步驟3、根據所述第一參數信息、所述第二參數信息和所述直角坐標系，確定所述第二基線框相對于所述第一基線框的坐標偏移系數；

步驟4、根據所述坐標偏移系數和所述第一參數信息，確定所述掃描圖中所有填涂格的邊界點的坐標值；

步驟5、根據所述坐標值和所述第一參數信息，分別對所述所有填涂格進行填涂識別；

其中，所述基準圖為第一矩形；所述第一基線框為第二矩形，所述第二矩形的上邊界線、下邊界線、左邊界線和右邊界線分別一一對應的與所述第一矩形的上邊界線、下邊界線、左邊界線和右邊界線平行，所述第二矩形位于所述第一矩形的內部；

所述步驟2包括：步驟2.1、逐行或逐列識別二值化處理后的所述掃描圖，確定每一行或每一列的最大連續黑點個數占像素點總個數的第一比值以及黑點總個數占所述像素點總個數的第二比值；

步驟2.2、對比所述第一比值和第一閾值的大小以及所述第二比值和第二閾值的大小，當所述第一比值大于所述第一閾值且所述第二比值大于所述第二閾值時，則確定該行或列為所述第二基線框的邊界線，其中，所述第二閾值大于所述第一閾值。

2.根據權利要求1所述的一種答題卡填涂識別方法，其特征在于，在所述步驟1之前，所述方法還包括：

步驟6、建立所述答題卡對應的基準圖，并確定直角坐標系和所述基準圖中的第一基線框，以及所述基準圖的第一參數信息；

步驟7、保存所述直角坐標系、所述第一基線框和所述第一參數信息，

其中，所述第一參數信息包括所述第二矩形的四個頂點在所述直角坐標系中的坐標值、所述第二矩形的寬度、所述第二矩形的高度、所述基準圖中所有填涂格的第一邊界點的坐標值、第一預設頂點、第二預設頂點和填涂格填涂閾值，所述第一預設頂點和所述第二預設頂點分別為所述第二矩形的四個頂點中的任一個，所述第一邊界點為能確定其對應的填涂格的坐標范圍的點。

3.根據權利要求2所述的一種答題卡填涂識別方法，其特征在于，所述步驟2包括：

步驟2.3、當確定的邊界線為兩條時，則完成所述第二基線框的識別，當確定的邊界線的個數小于兩條且未按照預設旋轉角度旋轉所述二值化后的掃描圖時，則按照所述預設旋轉角度，旋轉所述二值化后的掃描圖，并執行步驟2.1，當確定的邊界線的個數小于兩條且已按照所述預設旋轉角度旋轉所述二值化后的掃描圖，則結束對答題卡的填涂識別；

步驟2.4、根據所述直角坐標系、所述第一參數信息和所述第二基線框，確定所述第二參數信息，

其中，所述第二基線框為所述第二矩形對應的四邊形，所述第二參數信息包括所述第二矩形的四個頂點一一對應的所述四邊形的四個頂點在所述直角坐標系中的坐標值、所述四邊形的寬度、所述四邊形的高度、所述四邊形的所述第一預設頂點對應的第三預設頂點和所述四邊形的所述第二預設頂點對應的第四預設頂點。

4.根據權利要求3所述的一種答題卡填涂識別方法，其特征在于，所述步驟2.1包括：

步驟2.11、對所述掃描圖進行二值化處理，得到二值化后的掃描圖；

步驟2.12、逐行或逐列識別所述二值化后的掃描圖中的像素點及其對應的顏色值；

步驟2.13、根據所述顏色值，確定每一行或每一列的最大連續黑點個數占像素點總個數的第一比值以及黑點總個數占所述像素點總個數的第二比值。

5.根據權利要求4所述的一種答題卡填涂識別方法，其特征在于，所述坐標偏移系數包括：橫坐標縮放變換參數，縱坐標縮放變換參數，橫坐標平行偏移變換參數，縱坐標平行偏移變換參數，橫坐標傾斜偏移變換參數和縱坐標傾斜偏移變換參數。