[發明專利]一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置

在審

• 申請號: 201710889301.8
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107782642A
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 郭文平;余俊慧;李微;楊克成
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 華中科技大學專利中心42201
• 代理人: 王世芳,李智

1.一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，其包括微流控芯片(7)、微流泵(6)、激光器(1)、第一聚焦透鏡組(2)、第二聚焦透鏡組(13)、圓盤調整架(3)、光電探測器(8)、數字相關器(9)以及計算機(10)，其中，

微流控芯片(7)設置在圓盤調整架(3)上，所述微流控芯片(7)上設置有用作樣品池的平直狀微流道，該平直狀微流道連通微流泵(6)，微流泵(6)用于將待測量顆粒粒徑的樣品泵送至平直狀微流道，

光電探測器(8)設置在圓盤調整架上或者設置在圓盤調整架周邊，

第一聚焦透鏡組(2)設置在激光器(1)出射光方向上，用于將激光器(1)的出射光進行準直和聚焦，從第一聚焦透鏡組(2)出射的激光光斑入射至微流控芯片(7)的樣品池中，經樣品池中的顆粒發生散射，

第二聚焦透鏡組(13)用于將從樣品池出射的散射光匯聚至光電探測器(8)，所述光電探測器(8)設置在第二聚焦透鏡組(13)的出射光方向上，以用于接收單位時間內的所測角度處散射光的光子數，所述數字相關器(9)用于根據離散光子數獲得所測角度處的光強自相關函數，所述計算機(10)用于依據光強自相關函數反演獲得樣品的粒徑。

2.如權利要求1所述的一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，所述圓盤調整架(3)包括外圓盤(4)、內圓盤(5)以及圓盤旋轉軸，其中，外圓盤(4)、內圓盤(5)同軸設置，圓盤旋轉軸設置在外圓盤(4)和內圓盤(5)的共同的軸心處，

外圓盤(4)和圓盤旋轉軸能夠沿共同的軸心旋轉，內圓盤(5)固定不動。

3.如權利要求2所述的一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，光電探測器(8)具有多個，微流控芯片(7)設置在固定不動的內圓盤(5)軸心出，多個光電探測器(8)設置在外圓盤的邊緣處，以能接收多個角度的散射光。

4.如權利要求3所述的一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，光電探測器(8)具有三個，在三個散射角所對應的外圓盤相應位置分別固定光電探測器，同時測量一組散射角所對應的動態散射光，

光電探測器(8)輸出光電流接入三通道的數字相關器，工作時，轉動外圓盤，以能獲得多種不同角度的動態散射光。

5.如權利要求2所述的一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，光電探測器(8)具有一個，該一個光電探測器(8)設置在圓盤調整架周邊并且固定不動，微流控芯片(7)設置在可轉動的圓盤旋轉軸上，工作時，轉動圓盤旋轉軸以旋轉微流控芯片(7)，從而能使光電探測器(8)獲得多個角度的散射光。

6.如權利要求2所述的一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，光電探測器(8)具有一個，該一個光電探測器(8)設置在外圓盤的最大圓環處，微流控芯片(7)設置在內圓盤的軸心處并且固定不動，工作時，轉動外圓盤，以調整光電探測器方向，從而能使光電探測器(8)獲得多個角度的動態散射光。

7.如權利要求1-6之一所述的一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，所述光電探測器為光電倍增管或光子計數器。

8.如權利要求7所述的一種多峰值顆粒群粒徑分布檢測裝置，其特征在于，所述光子計數器為單光子計數器，能夠將微弱信號識別并提取出來，從提高了監測數據的準確性。