[發明專利]一種液晶屏對位偏移缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 201710888193.2
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107656387B
• 公開（公告）日: 2020-07-21
• 發明（設計）人: 劉霖;胡杰;劉三亞;劉笑寒;杜曉輝;倪光明;張靜;劉娟秀;劉永
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 甘茂

1.一種液晶屏對位偏移缺陷檢測方法，該方法包括：

步驟1：采用紅色可見光對液晶屏進行補光，獲取液晶屏玻璃層可見光圖像；

步驟2：采用紅外光對對液晶屏進行補光，獲取液晶屏電極層紅外光圖像；

步驟3：對獲取的玻璃層可見光圖像和電極層紅外光圖像，分別進行灰度處理，再采用不同的閾值進行二值化處理，用于得到玻璃層和電極層的二值化圖像；

步驟4：采用標準的mark標志圖像對玻璃層二值化圖像中各區域圖像進行匹配，找到玻璃層二值化圖像中mark標志，采用相同方式找到電極層二值化圖像中的mark標志；

步驟5：對玻璃層二值化圖像中mark標志和電極層二值化圖像中的mark標志分別進行輪廓提?。?/p>

步驟6：分別計算出玻璃層mark標志輪廓和電極層mark標志輪廓的中心點，通過兩中心點的重合度來判斷液晶屏對位是否偏移。

2.如權利要求1所述的一種液晶屏對位偏移缺陷檢測方法,其特征在于所述步驟4的匹配方法為：通過計算兩圖像的匹配度，找出匹配度最大的區域即mark標志；匹配度的計算方法為：

其中，R(x,y)表示當二值模板mark圖像在待檢測圖像中上滑動時，與其中心重合的二值待匹配圖像相應區域的匹配度大小，R(x,y)的值越小表示匹配度越大，T(x',y')表示二值模板mark圖像，I(x,y)表示二值待匹配圖像，(x',y')表示二值模板mark圖像在二值待匹配圖像上滑動時兩者重合區域對應的所有像素，(x,y)表示匹配區域的坐標，取值與模板圖像的范圍一致。

3.如權利要求1或2所述的一種液晶屏對位偏移缺陷檢測方法,其特征在于所述步驟5的輪廓提取方法為分別對步驟4中獲得的玻璃層二值化圖像和電極層圖像進行孔洞填充，然后對孔洞填充圖進行連通域標記，連通域標記只標記像素值為255的像素。