[發(fā)明專利]一種調(diào)試切換電路及調(diào)試電路板在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710884067.X | 申請(qǐng)日: | 2017-09-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107577574A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-01-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王智勇;何紹軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥惠科金揚(yáng)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/273 | 分類號(hào): | G06F11/273;G06F13/38 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所44237 | 代理人: | 官建紅 |
| 地址: | 230012 安徽省合*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 調(diào)試 切換 電路 電路板 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于調(diào)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種調(diào)試切換電路及調(diào)試電路板。
背景技術(shù)
在芯片或者軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中,需通過(guò)各種接口進(jìn)行調(diào)試工作,僅僅通過(guò)飛線或單一調(diào)試功能的電路板已經(jīng)不能滿足日益增加的調(diào)試工作量。在國(guó)際通用標(biāo)準(zhǔn)中,一塊調(diào)試板只包含一套調(diào)試方案,對(duì)芯片或者軟件進(jìn)行調(diào)試完成后再次更換另一塊調(diào)試板進(jìn)行調(diào)試,在實(shí)際設(shè)計(jì)中,為了單個(gè)調(diào)試板調(diào)試的便利性,通常將該調(diào)試板的接口設(shè)置成通用可拔插接口,但是現(xiàn)有的調(diào)試板測(cè)試過(guò)程中仍然具有調(diào)試繁瑣的問(wèn)題,且在面對(duì)多種調(diào)試方案的情景時(shí)使用多塊調(diào)試板極大增加了調(diào)試成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種調(diào)試切換電路及調(diào)試電路板,旨在解決面對(duì)多種調(diào)試方案時(shí)調(diào)試繁瑣復(fù)雜且成本昂貴的問(wèn)題。
本發(fā)明實(shí)施例提供的一種調(diào)試切換電路,包括:
轉(zhuǎn)換芯片,用于對(duì)調(diào)試信號(hào)的輸入與輸出進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換以實(shí)現(xiàn)串口的轉(zhuǎn)接;
多個(gè)配置芯片單元,用于加載待調(diào)試的技術(shù)方案;
多個(gè)開(kāi)關(guān)管芯片單元,用于控制配置芯片單元與轉(zhuǎn)換芯片的連接狀態(tài),所述多個(gè)開(kāi)關(guān)管芯片單元分別與所述多個(gè)配置芯片單元一一對(duì)應(yīng),所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第一電流輸入端與對(duì)應(yīng)的所述配置芯片單元的第一輸出端連接,所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第二電流輸入端與對(duì)應(yīng)的所述配置芯片單元的第二輸出端連接,所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第一電流輸出端與所述轉(zhuǎn)換芯片的芯片選擇端口連接,所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第二電流輸出端與所述轉(zhuǎn)換芯片的時(shí)鐘端口連接;
多路切換開(kāi)關(guān),用于控制多個(gè)開(kāi)關(guān)管芯片的狀態(tài)從而控制調(diào)試過(guò)程的開(kāi)啟、關(guān)閉以及選擇需要調(diào)試的配置芯片單元進(jìn)行調(diào)試從而實(shí)現(xiàn)調(diào)試電路的切換,所述多路切換開(kāi)關(guān)的數(shù)據(jù)端與所述轉(zhuǎn)換芯片的數(shù)據(jù)端連接,所述多路切換開(kāi)關(guān)的多個(gè)開(kāi)關(guān)端與多個(gè)配置芯片單元的數(shù)據(jù)端一一對(duì)應(yīng)連接,所述多路切換開(kāi)關(guān)的接地端接地,所述多路切換開(kāi)關(guān)的多個(gè)控制端與所述多個(gè)開(kāi)關(guān)管芯片單元的受控端一一對(duì)應(yīng)連接。
優(yōu)選地,所述開(kāi)關(guān)管芯片單元包括:開(kāi)關(guān)管芯片、電阻R1;
所述電阻R1的第一端接入供電電源,所述電阻R1的第二端、所述開(kāi)關(guān)管芯片的第一控制端與所述開(kāi)關(guān)管芯片的第二控制端共接作為所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的受控端,所述開(kāi)關(guān)管芯片的第一電流輸出端作為所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第一電流輸出端,所述開(kāi)關(guān)管芯片的第二電流輸出端作為所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第二電流輸出端,所述開(kāi)關(guān)管芯片的第一電流輸入端為所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第一電流輸入端,所述開(kāi)關(guān)管芯片的第二電流輸入端為所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的第二電流輸入端。
優(yōu)選地,所述配置芯片單元包括:電阻R2、電阻R3、配置芯片;
所述電阻R2的第一端、所述電阻R3的第一端共接于所述配置芯片的數(shù)據(jù)輸出端,所述電阻R3的第二端與所述配置芯片的電源端共接于供電電源,所述配置芯片的芯片選擇端口作為所述配置芯片單元的第一輸出端,所述配置芯片的時(shí)鐘端口作為所述配置芯片單元的第二輸出端,所述配置芯片的數(shù)據(jù)輸入端與所述電阻R2的第二端共接作為所述配置芯片單元的數(shù)據(jù)端,所述配置芯片的接地端接地。
優(yōu)選地,所述配置芯片為符合3線制串行總線的電可擦除只讀存儲(chǔ)器。
優(yōu)選地,所述開(kāi)關(guān)管芯片包括第一N型MOS管和第二N型MOS管,所述第一N型MOS管的漏極為所述開(kāi)關(guān)管芯片的第一電流輸入端,所述第一N型MOS管的源極為所述開(kāi)關(guān)管芯片的第一電流輸出端,所述第一N型MOS管的柵極為所述開(kāi)關(guān)管芯片的第一控制端,所述第二N型MOS管的漏極為所述開(kāi)關(guān)管芯片的第二電流輸入端,所述第二N型MOS管的源極為所述開(kāi)關(guān)管芯片的第二電流輸出端,所述第二N型MOS管的柵極為所述開(kāi)關(guān)管芯片的第二控制端。
優(yōu)選地,所述轉(zhuǎn)換芯片主要用于實(shí)現(xiàn)USB到串行UART接口的轉(zhuǎn)換,所述轉(zhuǎn)換芯片為USB-UART轉(zhuǎn)換芯片。
優(yōu)選地,所述多路切換開(kāi)關(guān)為機(jī)械多控開(kāi)關(guān),所述機(jī)械多控開(kāi)關(guān)具有數(shù)據(jù)端和接地端,所述機(jī)械多控開(kāi)關(guān)的多個(gè)開(kāi)關(guān)端與所述多個(gè)配置芯片單元的數(shù)據(jù)端一一對(duì)應(yīng)連接,所述機(jī)械多控開(kāi)關(guān)的所述開(kāi)關(guān)端用于開(kāi)啟或者關(guān)閉對(duì)應(yīng)的所述配置芯片單元的數(shù)據(jù)端與所述轉(zhuǎn)換芯片單元的數(shù)據(jù)端之間的連接,所述機(jī)械多控開(kāi)關(guān)的多個(gè)控制端用于開(kāi)啟或者關(guān)閉對(duì)應(yīng)的所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的受控端與所述機(jī)械多控開(kāi)關(guān)的接地端的連接。
進(jìn)一步地,所述多路切換開(kāi)關(guān)還可以為多路數(shù)字開(kāi)關(guān),所述多路數(shù)字開(kāi)關(guān)具有數(shù)據(jù)端和接地端,通過(guò)控制所述多路數(shù)字開(kāi)關(guān)的控制指令來(lái)開(kāi)啟或者關(guān)閉所述配置芯片單元的數(shù)據(jù)端與所述轉(zhuǎn)換芯片單元的數(shù)據(jù)端之間的連接以及所述開(kāi)關(guān)管芯片單元的受控端與所述機(jī)械多控開(kāi)關(guān)的接地端的連接。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 調(diào)試系統(tǒng)、調(diào)試方法和調(diào)試控制方法
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