[發(fā)明專利]一種基于Kinect的產(chǎn)品外形檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710879320.2
• 申請日: 2017-09-26
• 公開（公告）號: CN107633518A
• 公開（公告）日: 2018-01-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 伏燕軍;王福偉;夏桂鎖;楊鵬斌;徐天義
• 申請（專利權(quán)）人: 南昌航空大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T15/00;G06T7/80
• 代理公司: 南昌洪達專利事務(wù)所36111
• 代理人: 劉凌峰

1.一種基于Kinect的產(chǎn)品外形檢測方法，其測量系統(tǒng)包括：Kinect傳感器、計算機、標定圓柱體；其特征：測量方法為：標定圓柱與Kinect固定于實驗臺；Kinect傳感器通過數(shù)據(jù)線連接計算機；Kinect與圓柱體同一水平高度；Kinect呈圓形環(huán)繞圓柱體。

2.根據(jù)權(quán)利1要求所述的一種基于Kinect產(chǎn)品外形檢測方法，其特征在于：具體三種方式為：

（1）基于圓柱體的Kinect標定方法；

（2）Kinect點云數(shù)據(jù)采集與優(yōu)化方法；

（3）點云數(shù)據(jù)的匹配重構(gòu)模型。

3.根據(jù)權(quán)利2要求所述的一種基于Kinect產(chǎn)品外形檢測方法，其特征在于：基于圓柱體的Kinect標定方法具體為：相機標定，采用圓柱體標定方法，使每個Kinect設(shè)備能夠獲得具有重合區(qū)域的數(shù)據(jù)點云，進而利用幾組數(shù)據(jù)點云列出多項式方程組，解出相關(guān)參數(shù)，求得旋轉(zhuǎn)平移矩陣，得到相機間位姿。

4.根據(jù)權(quán)利2要求所述的一種基于Kinect產(chǎn)品外形檢測方法，其特征在于：Kinect點云數(shù)據(jù)采集與優(yōu)化方法具體為：深度數(shù)據(jù)獲取優(yōu)化；

首先，Kinect設(shè)備對物體進行深度數(shù)據(jù)獲取，在OpenNI架構(gòu)下借助opencv庫函數(shù)選取深度圖像中物體所在區(qū)域，選擇使用矩形框的形式將物體圈出來；

然后，再對該區(qū)域改進的K-means聚類方法，用二分K-means聚類法，有效去出了物體背景噪聲，再利用插值法補齊物體表面孔洞，為最后的重建打下基礎(chǔ)。

5.根據(jù)權(quán)利2要求所述的一種基于Kinect產(chǎn)品外形檢測方法，其特征在于：點云數(shù)據(jù)的匹配重構(gòu)模型具體為：三維重建，主要遵循了KinectFusion的算法框架，利用4相機獲得深度數(shù)據(jù)，根據(jù)相機位姿，利用ICP迭代最近點法，充分利用每幅點云的法線向量信息，進行配準，直到達到迭代次數(shù)。