[發明專利]一種改善多晶黑硅太陽電池晶向間差異的工藝方法有效
| 申請號: | 201710874428.2 | 申請日: | 2017-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN107742660B | 公開(公告)日: | 2019-06-11 |
| 發明(設計)人: | 劉慶平;張明明;黃明;陸祥;楊曉琴;付少劍 | 申請(專利權)人: | 江西展宇新能源股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0236;C30B33/10 |
| 代理公司: | 南昌恒橋知識產權代理事務所(普通合伙) 36125 | 代理人: | 楊志宇 |
| 地址: | 334000 江西省*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 改善 多晶 太陽電池 差異 工藝 方法 | ||
1.一種改善多晶黑硅太陽電池晶向間差異的工藝方法,其特征為:由下列步驟組成:(1)堿拋光:
第1步:在可定量補加化學品、水的耐酸堿槽體內配置濃度為9-11% 的KOH 溶液及用于控制反應速度的添加劑A;
第2步:將該溶液加熱到75-80℃ ;
第3步:將多晶硅片浸入此溶液中反應190-230s;
第4步:將浸泡后的硅片取出,后對藥液補加0.4-0.6%體積的KOH溶液,0.04-0.06%體積的添加劑A,及1-2%體積的水,每經過8-12批排放4-6%體積的藥液;
(2)正常濕法黑硅制絨:
第1步:在濕法黑硅機內采用0.6-1%的HF及含有超低銀離子的添加劑B混合溶液內,在硅片表面沉積銀粒子,時間為110-150s ;
第2 步:在濕法黑硅機內采用0.3-0.7%的HF、8-12%的H2O2、用于加速脫泡的添加劑C及用于抑制反應速度的添加劑D混合溶液內利用金屬輔助化學腐蝕原理在硅片表面進行挖孔,時間為200-260s,制作形成的孔洞深度為500-650nm;
第3 步:利用含有3-5%的NH3·H2O及4-7%的H2O2的混合溶液內對沉積的銀粒子進行去除,時間為200-300s;
第4 步:利用常規的酸制絨原理對形成的深孔洞進行擴大,優化絨面結構,最終在硅片表面形成深度為480-630nm的孔徑為600-700nm的圓洞形絨面,擴孔時間為 100-200s。
2.如權利要求1所述的一種改善多晶黑硅太陽電池晶向間差異的工藝方法,其特征為:由下列步驟組成:(1)堿拋光;(2)正常濕法黑硅制絨;
(1)堿拋光的具體工藝步驟:
第1步:在可定量補加化學品、水的耐酸堿槽體內配置濃度為10% 的KOH 溶液及用于控制反應速度的添加劑A;
第2步:將該溶液加熱到77℃;
第3步:將多晶硅片浸入此溶液中反應220s;
第4步:每批硅片取出后對藥液補加0.5%體積的KOH溶液0.05%體積的添加劑A及1.5%體積的水,每經過10批排放5%體積的藥液;
(2)濕法制絨的具體工藝步驟:
第1步:在濕法黑硅機內采用0.8%的HF及含有超低銀離子的添加劑B混合溶液內,在硅片表面沉積銀粒子,時間為130s;
第2步:在濕法黑硅機內采用0.5%的HF及10%的H2O2、用于加速脫泡的添加劑C及用于抑制反應速度的添加劑D混合溶液內利用金屬輔助化學腐蝕原理在硅片表面進行挖孔,時間為230s,制作形成的孔洞深度為550nm;
第3步:利用含有4%的NH3·H2O及5.5%的H2O2的混合溶液內對沉積的銀粒子進行去除,時間為250s;
第4步:利用常規的酸制絨原理對形成的深孔洞進行擴大,優化絨面結構,最終在硅片表面形成深度為550nm的孔徑為630nm的圓洞形絨面,擴孔時間為150s。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





