[發明專利]一種液晶盒厚度測量裝置及測量方法

有效

• 申請號: 201710872980.8
• 申請日: 2017-09-25
• 公開（公告）號: CN107462177B
• 公開（公告）日: 2019-11-05
• 發明（設計）人: 黃建龍
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

1.一種液晶盒厚度測量裝置，用于測量液晶盒的厚度尺寸，其特征在于，包括第一移動臺、與所述第一移動臺相對設置的第二移動臺、光發射器以及用于接收所述光發射器發射光信號的光電檢測器；所述第一移動臺的側面與所述第二移動臺的側面之間形成間隔區域，并且所述第一移動臺的側面與所述第二移動臺的側面均設有滑槽；所述第一移動臺的所述滑槽內裝有多個第一滑塊，所述第二移動臺的所述滑槽內裝有多個第二滑塊，所述第一滑塊和所述第二滑塊位于所述間隔區域內，所述第一滑塊和所述第二滑塊均包括凸出所述第一移動臺與所述第二移動臺的側面的承載體，所述承載體位于所述間隔區域內承載所述液晶盒；所述光發射器和所述光電檢測器在垂直于水平面的方向上上下相對設置并且光信號路徑位于所述間隔區域內。

2.如權利要求1所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，所述第一滑塊和所述第二滑塊均包括滑動裝于所述滑槽內的滑動體、連接所述滑動體與所述承載體的抵持體；所述抵持體凸設于所述滑動體的一表面，所述承載體凸設于所述抵持體表面。

3.如權利要求2所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，每個所述承載體包括第一面,所述第一滑塊的承載體的第一面形成第一承載面，所述第二滑塊的承載體的第一面形成第二承載面，所述第一承載面與所述第二承載面處于同一水平面并位于所述間隔區域內。

4.如權利要求2所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，每個所述抵持體包括第二面,所述第一滑塊的抵持體的第二面形成第一抵持面，所述第二滑塊的抵持體的第二面形成第二抵持面，所述第一抵持面與所述第二抵持面相對設置并朝向所述間隔區域內。

5.如權利要求1所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，所述滑槽的兩側設有貫穿移動臺的開口，所述滑塊可滑出所述開口。

6.如權利要求2所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，所述第一移動臺和第二移動臺的滑槽均包括第一側面和與所述第一側面平行相對的第二側面；所述第一側面抵接所述抵持體的端面；所述第二側面抵接所述抵持體的底面。

7.如權利要求1所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，所述光發射器為波長450-650nm的激光發射器。

8.如權利要求7所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，所述光電檢測器包括接收單元與處理單元；所述接收單元用于接收所述光發射器發射的光信號，所述處理單元用于將光信號轉化為電信號。

9.如權利要求8所述的液晶盒厚度測量裝置，其特征在于，所述液晶盒厚度測量裝置還包括處理所述電信號的示波器。

10.一種液晶盒厚度測量方法，所述方法為權利要求4所述的液晶盒厚度測量裝置的測量方法，其特征在于，包括：

取液晶盒置于多個滑塊的承載面，并根據所述液晶盒的尺寸大小，確定所述滑塊的數量，通過調整所述滑塊的位置以調整所述液晶盒所要測量位置；

調整移動臺的相對位置，使第一抵持面和第二抵持面夾持所述液晶盒；

啟動光發射器和光電檢測器，所述光發射器發射光信號，所述光電檢測器接收所述光信號及轉化為電信號，并處理所述電信號及計算所述液晶盒的厚度。