[發明專利]一種過套管地層微分電阻率測井方法

有效

• 申請號: 201710871003.6
• 申請日: 2017-09-23
• 公開（公告）號: CN107575220B
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發明（設計）人: 沈建國;譚剛;舒敦利
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/13
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 吳學穎

1.一種過套管地層微分電阻率測井方法,其特征在于，包括以下步驟：

步驟一，在套管井中用瞬變激發方式激勵發射線圈，產生連續的電磁感應瞬態信號，在套管井中產生電磁感應響應信號，電磁感應瞬態信號的頻譜包絡線與頻率成反比，電磁能量穿過套管進入地層，在地層中產生渦流；

步驟二，與發射線圈同軸放置并且間隔一段距離的接收線圈將接收到電磁感應響應波形，該波形主要由套管和地層的直接耦合信號和渦流電磁感應信號組成，地層的渦流電磁感應信號攜帶地層電阻率信息；

步驟三，用相鄰深度所測量的電磁感應響應波形相減，去掉套管和地層的直接耦合信號和套管的渦流電磁感應信號，僅剩余相鄰兩點地層的渦流電磁感應信號的差，該信號差與地層的電導率差成正比；

步驟四，用刻度系統將所測量的信號差刻度成地層的電導率差——電導率對深度的微分；

步驟五，用積分的方法將地層的電導率差轉換為地層的電導率；

步驟六，對地層的電導率取倒數獲得地層的電阻率值，對每個深度進行連續測量便獲得連續的地層電阻率曲線。

2.根據權利要求1所述的過套管地層微分電阻率測井方法，其特征在于，步驟五中所述地層的電導率差轉換為地層的電導率的過程：首先給定初值，然后對電導率差進行累加，最后再乘以深度間隔。