[發(fā)明專利]平面檢測儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710866669.2
• 申請日: 2017-09-22
• 公開（公告）號: CN109539956A
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 呂理清;向健華
• 申請（專利權(quán)）人: 富泰華工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334
• 代理人: 劉永輝;鄭杏芳

1.一種平面檢測儀，包括：一定位板、一百分表、一圓棍機(jī)構(gòu)以及一滑塊，所述定位板的上表面設(shè)置所述圓棍機(jī)構(gòu)，所述圓棍機(jī)構(gòu)用以設(shè)置所述百分表，所述圓棍機(jī)構(gòu)具有一第一圓棍以及一第二圓棍，所述第一圓棍與所述第二圓棍直交并樞接，使所述百分表具有的一檢測標(biāo)桿維持在鉛垂?fàn)顟B(tài)，所述滑塊具有一凹槽，所述凹槽與所述檢測標(biāo)桿契合時，讀取所述百分表上的數(shù)值進(jìn)行檢測。

2.如權(quán)利要求1所述的平面檢測儀，其特征在于：所述定位板的底面具有三個支撐腳，所述支撐腳均勻布設(shè)于所述定位板的底面上，使三個所述支撐腳確認(rèn)所在的一平面，用以通過所述平面進(jìn)行量測運(yùn)作。

3.如權(quán)利要求2所述的平面檢測儀，其特征在于：所述定位板是一П型板，所述П型板具有相對的兩側(cè)板以及所述兩側(cè)板之間的一橫板，三個所述支撐腳分別設(shè)置于相對的所述兩側(cè)板以及所述橫板。

4.如權(quán)利要求3所述的平面檢測儀，其特征在于：所述定位板的所述橫板設(shè)置所述圓棍機(jī)構(gòu)，所述橫板的上表面具有一基座，所述基座在一第一方向樞接所述第一圓棍，所述第一圓棍在一第二方向樞接所述第二圓棍，所述第二圓棍上設(shè)置所述百分表，使所述百分表的所述檢測標(biāo)桿位于所述П型板的內(nèi)側(cè)并朝向所述定位板的底面。

5.如權(quán)利要求4所述的平面檢測儀，其特征在于：所述第一方向與所述第二方向直交，所述第一圓棍在所述第一方向連接一第一支撐座，所述第一支撐座在所述第二方向樞接所述第二圓棍，所述第二圓棍在所述第二方向連接一第二支撐座，所述第二支撐座在所述第二方向設(shè)置所述百分表，使所述百分表在所述第二方向與所述第一方向調(diào)整所述檢測標(biāo)桿維持在鉛垂?fàn)顟B(tài)。

6.如權(quán)利要求5所述的平面檢測儀，其特征在于：所述第二支撐座的上方設(shè)置所述百分表，所述百分表的所述檢測標(biāo)桿穿過所述第二支撐座，且所述檢測標(biāo)桿位于所述第二支撐座的下方。

7.如權(quán)利要求6所述的平面檢測儀，其特征在于：所述凹槽是一弧形面，所述弧形面對應(yīng)的所述檢測標(biāo)桿是一圓柱狀桿體，使所述弧形面與所述圓柱狀桿體契合時，由所述百分表讀取量測數(shù)值。

8.如權(quán)利要求1所述的平面檢測儀，其特征在于：所述平面檢測儀包括一使用方法，所述使用方法包括以下步驟：

校準(zhǔn)所述平面檢測儀，通過一校準(zhǔn)塊進(jìn)行校準(zhǔn)，使所述百分表歸零；

設(shè)定校準(zhǔn)后所述平面檢測儀，將校準(zhǔn)后所述平面檢測儀的所述定位板設(shè)置在一待測物的一基準(zhǔn)面上，并使所述百分表的所述檢測標(biāo)桿對應(yīng)所述待測物的一待測面；

調(diào)整所述檢測標(biāo)桿垂直所述待測面，使用所述滑塊的所述凹槽與所述檢測標(biāo)桿契合；

讀取所述百分表數(shù)值，獲得所述待測物的所述基準(zhǔn)面與所述待測面之間的相對信息。

9.如權(quán)利要求8所述的平面檢測儀，其特征在于：所述校準(zhǔn)所述平面檢測儀的步驟，進(jìn)一步包括確認(rèn)一基準(zhǔn)面步驟，通過所述平面檢測儀的所述定位板的底面上均勻布設(shè)的三個支撐腳，三個所述支撐腳在所述校準(zhǔn)塊上確認(rèn)所述校準(zhǔn)塊的一基準(zhǔn)面。

10.如權(quán)利要求9所述的平面檢測儀，其特征在于：所述確認(rèn)一基準(zhǔn)面步驟，包括所述設(shè)定校準(zhǔn)后所述平面檢測儀步驟中，通過三個所述支撐腳在所述待測物上確認(rèn)所述待測物的所述基準(zhǔn)面。