[發明專利]平面檢測儀

在審

• 申請號: 201710866669.2
• 申請日: 2017-09-22
• 公開（公告）號: CN109539956A
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發明（設計）人: 呂理清;向健華
• 申請（專利權）人: 富泰華工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 劉永輝;鄭杏芳

1.一種平面檢測儀，包括：一定位板、一百分表、一圓棍機構以及一滑塊，所述定位板的上表面設置所述圓棍機構，所述圓棍機構用以設置所述百分表，所述圓棍機構具有一第一圓棍以及一第二圓棍，所述第一圓棍與所述第二圓棍直交并樞接，使所述百分表具有的一檢測標桿維持在鉛垂狀態，所述滑塊具有一凹槽，所述凹槽與所述檢測標桿契合時，讀取所述百分表上的數值進行檢測。

2.如權利要求1所述的平面檢測儀，其特征在于：所述定位板的底面具有三個支撐腳，所述支撐腳均勻布設于所述定位板的底面上，使三個所述支撐腳確認所在的一平面，用以通過所述平面進行量測運作。

3.如權利要求2所述的平面檢測儀，其特征在于：所述定位板是一П型板，所述П型板具有相對的兩側板以及所述兩側板之間的一橫板，三個所述支撐腳分別設置于相對的所述兩側板以及所述橫板。

4.如權利要求3所述的平面檢測儀，其特征在于：所述定位板的所述橫板設置所述圓棍機構，所述橫板的上表面具有一基座，所述基座在一第一方向樞接所述第一圓棍，所述第一圓棍在一第二方向樞接所述第二圓棍，所述第二圓棍上設置所述百分表，使所述百分表的所述檢測標桿位于所述П型板的內側并朝向所述定位板的底面。

5.如權利要求4所述的平面檢測儀，其特征在于：所述第一方向與所述第二方向直交，所述第一圓棍在所述第一方向連接一第一支撐座，所述第一支撐座在所述第二方向樞接所述第二圓棍，所述第二圓棍在所述第二方向連接一第二支撐座，所述第二支撐座在所述第二方向設置所述百分表，使所述百分表在所述第二方向與所述第一方向調整所述檢測標桿維持在鉛垂狀態。

6.如權利要求5所述的平面檢測儀，其特征在于：所述第二支撐座的上方設置所述百分表，所述百分表的所述檢測標桿穿過所述第二支撐座，且所述檢測標桿位于所述第二支撐座的下方。

7.如權利要求6所述的平面檢測儀，其特征在于：所述凹槽是一弧形面，所述弧形面對應的所述檢測標桿是一圓柱狀桿體，使所述弧形面與所述圓柱狀桿體契合時，由所述百分表讀取量測數值。

8.如權利要求1所述的平面檢測儀，其特征在于：所述平面檢測儀包括一使用方法，所述使用方法包括以下步驟：

校準所述平面檢測儀，通過一校準塊進行校準，使所述百分表歸零；

設定校準后所述平面檢測儀，將校準后所述平面檢測儀的所述定位板設置在一待測物的一基準面上，并使所述百分表的所述檢測標桿對應所述待測物的一待測面；

調整所述檢測標桿垂直所述待測面，使用所述滑塊的所述凹槽與所述檢測標桿契合；

讀取所述百分表數值，獲得所述待測物的所述基準面與所述待測面之間的相對信息。

9.如權利要求8所述的平面檢測儀，其特征在于：所述校準所述平面檢測儀的步驟，進一步包括確認一基準面步驟，通過所述平面檢測儀的所述定位板的底面上均勻布設的三個支撐腳，三個所述支撐腳在所述校準塊上確認所述校準塊的一基準面。

10.如權利要求9所述的平面檢測儀，其特征在于：所述確認一基準面步驟，包括所述設定校準后所述平面檢測儀步驟中，通過三個所述支撐腳在所述待測物上確認所述待測物的所述基準面。