[發明專利]一種光場相機微透鏡陣列中心的標定方法

有效

• 申請號: 201710866593.3
• 申請日: 2017-09-22
• 公開（公告）號: CN107610182B
• 公開（公告）日: 2018-09-11
• 發明（設計）人: 李蘇寧;袁遠;談和平;劉彬;董士奎;帥永
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 岳泉清

1.一種光場相機微透鏡陣列中心的標定方法，其特征在于：所述方法具體過程為：

步驟一：使用光場相機對白色勻光板成像，獲取光場原始白圖像I；

步驟二：定義光場原始白圖像I坐標系：

以光場原始白圖像I的橫縱邊界為坐標軸建立圖像坐標系x-y，將位于光場原始白圖像I中第x行、第y列的像素點用坐標(x,y)表示，對光場原始白圖像I中行、列依次標序號；

步驟三：采用統計學方法，對光場原始白圖像I的像素值分別按行、列求和，得到光場原始白圖像I的行、列像素和；

步驟四：根據光場原始白圖像I的行、列像素和劃分微透鏡單元區域；

步驟五：根據得到的微透鏡單元區域選取候選中心區域；

步驟六：根據候選中心區域確定微透鏡中心及劃分子圖像區域。

2.根據權利要求1所述一種光場相機微透鏡陣列中心的標定方法，其特征在于：所述步驟三中采用統計學方法，對光場原始白圖像I的像素值分別按行、列求和，得到光場原始白圖像I的行、列像素和；具體過程為：

光場原始白圖像I的行、列像素和分別為：

式中，S_row(x)表示光場原始白圖像I第x行像素值求和結果，即行像素和；S_col(y)表示光場原始白圖像I第y列像素值求和結果，即列像素和；I(x,y)表示坐標(x,y)的像素值；m,n表示光場原始白圖像I分辨率m×n，m表示光場原始白圖像的行數，n表示光場原始白圖像的列數，m、n取值為正整數。

3.根據權利要求2所述一種光場相機微透鏡陣列中心的標定方法，其特征在于：所述步驟四中根據光場原始白圖像I的行、列像素和劃分微透鏡單元區域：具體過程為：

設定光場原始白圖像I的行、列閾值分別為：

利用行、列閾值分別對行、列像素和進行篩查，當S_row(x)小于行閾值Th_row，則將第x行作為微透鏡單元的分界行，當S_row(x)大于等于行閾值Th_row，則第x行不為微透鏡單元的分界行；當S_col(y)小于列閾值Th_col，則將第y列作為微透鏡單元的分界列，當S_col(y)大于等于列閾值Th_col，則第y列不為微透鏡單元的分界列；

將各分界行、列序號依次組成分界坐標，通過相鄰四個分界坐標劃分一個微透鏡單元區域；

得到M個微透鏡單元區域；

設定剩余不足一個微透鏡單元區域為一個微透鏡單元區域，由圖像邊緣坐標與分界坐標共同確定。