[發明專利]一種星載閃電成像儀高能粒子軌跡噪聲濾除方法

有效

• 申請號: 201710864440.5
• 申請日: 2017-09-22
• 公開（公告）號: CN107797158B
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 高慧婷;鮑書龍;劉薇;曹世翔;齊文雯;譚偉;何紅艷;鮑云飛;王殿中;梁華
• 申請（專利權）人: 北京空間機電研究所
• 主分類號: G01V8/10
• 分類號: G01V8/10;G06T7/60
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 陳鵬

1.一種星載閃電成像儀高能粒子軌跡噪聲濾除方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)根據每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的閃電事件，獲取每個高能粒子軌跡噪聲樣本對應的樣本特征參數，其中，所述樣本特征參數包括每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的樣本閃電事件數量和每個高能粒子軌跡噪聲樣本在圖像坐標系中的樣本距離；

(2)根據實時獲取的每一個閃電事件在圖像坐標系中的位置，獲取每一個閃電事件在極坐標系中的投影曲線，并根據每一個閃電事件在極坐標系中的投影曲線，生成空間積累矩陣，所述空間積累矩陣中每一個元素用于表示將極坐標系劃分為多個位置區間后，每一個位置區間對應的不同閃電事件之間的投影曲線交點個數；

(3)從所述空間積累矩陣中獲取最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡的特征參數；

(4)根據每個高能粒子軌跡噪聲樣本對應的樣本特征參數和最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡的特征參數，檢測所述最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡是否為高能粒子軌跡噪聲；

(5)若檢測出所述最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡為高能粒子軌跡噪聲時，進行刪除處理。

2.根據權利要求1所述的一種星載閃電成像儀高能粒子軌跡噪聲濾除方法，其特征在于，所述檢測所述最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡的是否為高能粒子軌跡噪聲的方法為：

根據最大元素值對應的首尾閃電事件的位置坐標獲取最大元素值對應的軌跡在圖像坐標系中的距離，并且獲取最大元素值對應的閃電事件數量；

檢測所述最大元素值對應的閃電事件數量是否大于或等于所述樣本閃電事件數量最小值，并且檢測最大元素值對應的軌跡在圖像坐標系中的距離是否大于或等于樣本距離最小值；

若是，則確認最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡為高能粒子軌跡噪聲，若否，則確認最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡為非高能粒子軌跡噪聲。

3.根據權利要求1所述的一種星載閃電成像儀高能粒子軌跡噪聲濾除方法，其特征在于，所述樣本特征參數包括每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的樣本閃電事件數量、每個高能粒子軌跡噪聲樣本在圖像坐標系中的樣本距離、和每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的相鄰閃電事件在圖像坐標系中的樣本距離。

4.根據權利要求3所述的一種星載閃電成像儀高能粒子軌跡噪聲濾除方法，其特征在于，所述檢測所述最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡的是否為高能粒子軌跡噪聲的方法為：

根據最大元素值對應的首尾閃電事件的位置坐標獲取最大元素值對應的軌跡在圖像坐標系中的距離，并且獲取最大元素值對應的閃電事件數量；

檢測所述最大元素值對應的閃電事件數量是否大于或等于所述樣本閃電事件數量最小值，并且檢測最大元素值對應的軌跡在圖像坐標系中的距離是否大于或等于樣本距離最小值；

若是，則根據最大元素值對應的每一個閃電事件的位置坐標獲取相鄰閃電事件在圖像坐標系中的距離，并且判斷最大元素值對應的相鄰閃電事件在圖像坐標系中的距離最大值是否小于或等于每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的相鄰閃電事件在圖像坐標系中的樣本距離最大值；

若是，則確認最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡為高能粒子軌跡噪聲，若否，則確認最大元素值對應的閃電事件形成的軌跡為非高能粒子軌跡噪聲。

5.根據權利要求1所述的一種星載閃電成像儀高能粒子軌跡噪聲濾除方法，其特征在于，所述樣本特征參數包括每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的樣本閃電事件數量、每個高能粒子軌跡噪聲樣本在圖像坐標系中的樣本距離、每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的相鄰閃電事件在圖像坐標系中的樣本距離、和每個高能粒子軌跡噪聲樣本包含的任意兩個閃電事件連線之間的樣本夾角。