[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器模塊、存儲(chǔ)器控制器和系統(tǒng)及其相應(yīng)操作方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710858013.6
• 申請(qǐng)日: 2017-09-20
• 公開（公告）號(hào): CN107943609B
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林璇渶;趙永進(jìn);崔璋石
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 三星電子株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G06F11/10
• 分類號(hào): G06F11/10
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 吳曉兵

提供了一種用于報(bào)告關(guān)于芯片單元故障的信息的存儲(chǔ)器模塊、存儲(chǔ)器模塊的操作以及存儲(chǔ)器控制器的操作。所述存儲(chǔ)器模塊包括：安裝在模塊板上并存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的第一至第M存儲(chǔ)器芯片(其中M是等于或大于2的整數(shù))；以及安裝在模塊板上并存儲(chǔ)奇偶校驗(yàn)碼的第(M+1)存儲(chǔ)器芯片，所述奇偶校驗(yàn)碼用于恢復(fù)在第一至第M存儲(chǔ)器芯片中發(fā)生芯片單元故障的存儲(chǔ)器芯片的數(shù)據(jù)，其中通過芯片內(nèi)錯(cuò)誤檢測(cè)操作來(lái)從第一至第(M+1)存儲(chǔ)器芯片產(chǎn)生故障位，并且根據(jù)對(duì)來(lái)自第一至第(M+1)存儲(chǔ)器芯片的故障位進(jìn)行計(jì)算的結(jié)果來(lái)輸出故障信息。

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

本申請(qǐng)要求2016年10月12日在美國(guó)專利局遞交的美國(guó)專利臨時(shí)申請(qǐng)No.62/406,969和2017年1月4日在韓國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)局遞交的韓國(guó)專利申請(qǐng)No.10-2017-0001318的權(quán)益，其全部公開內(nèi)容通過引用合并于此。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明構(gòu)思涉及一種存儲(chǔ)器模塊，更具體地說(shuō)，涉及一種報(bào)告存儲(chǔ)器芯片的讀操作故障的存儲(chǔ)器模塊、操作存儲(chǔ)器模塊的方法以及操作存儲(chǔ)器控制器的方法。

背景技術(shù)

隨著半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的工作速度增加，數(shù)據(jù)發(fā)生錯(cuò)誤的概率增加。作為校正錯(cuò)誤的一個(gè)示例，已經(jīng)提出了一種恢復(fù)芯片單元中的錯(cuò)誤的方法。在這種情況下，存儲(chǔ)器控制器產(chǎn)生與預(yù)定單位的比特的數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的奇偶校驗(yàn)碼(例如，糾錯(cuò)碼)，并將該數(shù)據(jù)和奇偶校驗(yàn)碼存儲(chǔ)在包括多個(gè)存儲(chǔ)器芯片的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件(例如，存儲(chǔ)器封裝、存儲(chǔ)器模塊等)中。在讀取預(yù)定單位的數(shù)據(jù)時(shí)，可以使用讀取的數(shù)據(jù)和奇偶校驗(yàn)碼通過恢復(fù)算法來(lái)恢復(fù)錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。然而，為了存儲(chǔ)奇偶校驗(yàn)碼，存儲(chǔ)器芯片的數(shù)量增加，從而增加了半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的成本。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明構(gòu)思提供了一種具有錯(cuò)誤檢測(cè)和校正能力且制造成本降低的存儲(chǔ)器模塊、存儲(chǔ)器控制器和系統(tǒng)。

本發(fā)明構(gòu)思提供了一種操作存儲(chǔ)器模塊的方法。

本發(fā)明構(gòu)思還提供了一種操作存儲(chǔ)器控制器的方法。

根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的一方面，提供了一種存儲(chǔ)器模塊，包括：安裝在模塊板上并存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的第一至第M存儲(chǔ)器芯片(其中M是等于或大于2的整數(shù))；以及安裝在模塊板上并存儲(chǔ)奇偶校驗(yàn)碼的第(M+1)存儲(chǔ)器芯片，所述奇偶校驗(yàn)碼用于恢復(fù)在第一至第M存儲(chǔ)器芯片中發(fā)生芯片單元故障的存儲(chǔ)器芯片的數(shù)據(jù)，其中通過芯片內(nèi)錯(cuò)誤檢測(cè)操作從第一至第(M+1)存儲(chǔ)器芯片產(chǎn)生故障位，并且根據(jù)對(duì)來(lái)自第一至第(M+1)存儲(chǔ)器芯片的故障位進(jìn)行計(jì)算的結(jié)果來(lái)輸出故障信息。

根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的另一方面，提供了一種存儲(chǔ)器模塊，包括：M個(gè)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)芯片(其中M是等于或大于2的整數(shù))，其中每一個(gè)DRAM芯片包括DRAM內(nèi)糾錯(cuò)電路(In-DRAM ECC)并通過內(nèi)部錯(cuò)誤檢測(cè)來(lái)產(chǎn)生故障位，所述故障位指示是否發(fā)生了芯片單元故障；以及緩沖器芯片，從所述M個(gè)DRAM芯片接收故障位并通過對(duì)故障位的計(jì)算操作來(lái)輸出故障信息。

根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的另一方面，提供了一種操作存儲(chǔ)器控制器的方法，所述方法包括：從多個(gè)存儲(chǔ)器芯片接收數(shù)據(jù)和與所述數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的奇偶校驗(yàn)碼；接收對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器芯片中的至少一個(gè)發(fā)生故障加以指示的故障信息；請(qǐng)求提供對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器芯片中的故障存儲(chǔ)器芯片的位置加以指示的故障位；以及通過使用故障位和奇偶校驗(yàn)碼來(lái)恢復(fù)故障存儲(chǔ)器芯片的數(shù)據(jù)。

根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的另一方面，提供了一種操作存儲(chǔ)器模塊的方法，所述方法包括：讀取存儲(chǔ)在多個(gè)存儲(chǔ)器芯片中的數(shù)據(jù)和用于恢復(fù)所述多個(gè)存儲(chǔ)器芯片的故障的奇偶校驗(yàn)碼；從所述多個(gè)存儲(chǔ)器芯片中的每一個(gè)通過芯片內(nèi)錯(cuò)誤檢測(cè)操作來(lái)產(chǎn)生對(duì)是否發(fā)生芯片單元故障加以指示的故障位；以及輸出通過對(duì)從所述多個(gè)存儲(chǔ)器芯片產(chǎn)生的故障位進(jìn)行計(jì)算而產(chǎn)生的故障信息。

根據(jù)所述存儲(chǔ)器模塊、操作存儲(chǔ)器模塊的方法和操作存儲(chǔ)器控制器的方法，可以在不產(chǎn)生對(duì)故障存儲(chǔ)器芯片的位置加以指示的檢測(cè)碼的情況下恢復(fù)故障存儲(chǔ)器芯片的數(shù)據(jù)，因此，可以降低存儲(chǔ)器模塊的制造成本。