[發明專利]一種輔助超聲波測厚儀探頭測厚的裝置

有效

• 申請號: 201710857704.4
• 申請日: 2017-09-21
• 公開（公告）號: CN107677227B
• 公開（公告）日: 2019-12-17
• 發明（設計）人: 柯宜京
• 申請（專利權）人: 鎮江龍逸電子科技有限公司
• 主分類號: G01B17/02
• 分類號: G01B17/02
• 代理公司: 32256 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙)
• 代理人: 任立

1.一種輔助超聲波測厚儀探頭測厚的裝置，其特征在于：該裝置包括兩塊與被測面緊密貼合的、且相互鉸接在一起的底座（1），還包括兩根可伸縮的連接桿（5）；所述底座（1）沿其長度方向上設有長條形的滑槽（2）；所述滑槽（2）內設有可沿滑槽（2）自由滑動的滑塊（4），還設有用于保證鎖止時連接桿（5）與底座（1）垂直關系的直角滑塊（3）；所述兩根連接桿（5）上端鉸接在一起，下端分別鉸接在對應的兩個滑塊（4）上；所述兩根連接桿（5）上分別設有可沿連接桿（5）滑動的、用于將直角滑塊（3）和連接桿（5）鎖止在一起的第一鎖止滑塊（6）和第二鎖止滑塊（7）；所述第二鎖止塊（7）上設有與相應連接桿（5）相平行的、用于測厚的探頭（8）。

2.根據權利要求1所述的一種輔助超聲波測厚儀探頭測厚的裝置，其特征在于：當第二鎖止滑塊（7）鎖止時，所述探頭（8）垂直抵觸在被側面。