[發(fā)明專利]GaAs基倒裝LED芯片及其制備方法、LED顯示裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710857620.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107516698A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-12-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 米洪龍;關(guān)永莉;梁建;徐小紅;王琳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 山西飛虹微納米光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/00 | 分類號(hào): | H01L33/00;H01L33/48;H01L33/60 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 041600 山西省臨汾*** | 國(guó)省代碼: | 山西;14 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | gaas 倒裝 led 芯片 及其 制備 方法 顯示裝置 | ||
1.一種GaAs基倒裝LED芯片的制備方法,其特征在于,所述制備方法包括:
S1、制備GaAs基倒裝LED芯片的外延片;其中,外延片自下而上依次包括GaAs襯底、AlGaAs緩沖層、GaInP腐蝕停止層、N-GaAs層、量子阱層、P-GaAs層和P-GaP歐姆接觸層;
S2、在P-GaP歐姆接觸層上表面制備金屬接觸層;
S3、在金屬接觸層上表面制備鍵合圖形,其中,鍵合圖形的尺寸為L(zhǎng)ED芯片預(yù)設(shè)的切割道尺寸;
S4、根據(jù)制備的鍵合圖形采用濕法刻蝕工藝刻蝕切割道至N-GaAs層上表面;
S5、在基板上表面依次制備鍵合層和反射層,并將已經(jīng)制備好反射層和鍵合層的基板與經(jīng)步驟S4處理后的外延片進(jìn)行鍵合,其中,鍵合時(shí)的溫度為300~400℃,鍵合時(shí)間為200~300ms;
S6、采用化學(xué)濕法腐蝕工藝去掉GaAs襯底和AlGaAs緩沖層;
S7、將經(jīng)步驟S6處理后的外延片置于丙酮溶液中,并在30~60℃的條件下進(jìn)行超聲震蕩,超聲波的頻率為30~60MHZ,超聲震蕩的時(shí)間為3~8min,以將GaInP腐蝕停止層和N-GaAs層震蕩掉。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaAs基倒裝LED芯片的制備方法,其特征在于,所述步驟S4中濕法刻蝕工藝采用的刻蝕液和步驟S6中化學(xué)腐蝕工藝采用的腐蝕液的成份均為H3PO4、H2O2和H2O的混合液;
其中,H3PO4∶H2O2∶H2O的比例為2∶0.3~1.5∶10~20。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaAs基倒裝LED芯片的制備方法,其特征在于,
所述金屬接觸層的材料為Au和/或AuBe,所述鍵合層的材料為Ti/Pt,所述反射層的材料為Au。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaAs基倒裝LED芯片的制備方法,其特征在于,所述金屬接觸層的厚度為所述反射層的厚度為
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的GaAs基倒裝LED芯片的制備方法,其特征在于,步驟S7中超聲震蕩的溫度為45℃,超聲波的頻率為45MHZ,超聲震蕩的時(shí)間為5min。
6.一種GaAs基倒裝LED芯片,其特征在于,所述GaAs基倒裝LED芯片包括:多個(gè)陣列結(jié)構(gòu)和依次設(shè)置于多個(gè)陣列結(jié)構(gòu)上的鍵合層、反射層、基板;其中:
初始結(jié)構(gòu)包括外延片以及位于外延片上表面的金屬接觸層;
所述外延片自下而上依次包括GaAs襯底、AlGaAs緩沖層、GaInP腐蝕停止層、N-GaAs層、量子阱層、P-GaAs層和P-GaP歐姆接觸層;
切割道通過(guò)對(duì)所述初始結(jié)構(gòu)依次進(jìn)行濕法刻蝕、化學(xué)濕法腐蝕以及超聲震蕩后形成;
所述濕法刻蝕,用于根據(jù)預(yù)設(shè)在金屬接觸層上表面的鍵合圖形,從金屬接觸層刻蝕至N-GaAs層上表面;所述鍵合圖形的尺寸為L(zhǎng)ED芯片預(yù)設(shè)的切割道尺寸;
所述化學(xué)濕法腐蝕,用于去掉GaAs襯底和AlGaAs緩沖層;
所述超聲震蕩,用于在丙酮溶液中進(jìn)行超聲震蕩,以去除GaInP腐蝕停止層和N-GaAs層;所述超聲震蕩時(shí)的溫度條件為30~60℃,超聲波的頻率為30~60MHZ,超聲震蕩的時(shí)間為3~8min;
所述陣列結(jié)構(gòu)為所述初始結(jié)構(gòu)經(jīng)過(guò)濕法刻蝕、化學(xué)濕法腐蝕以及超聲震蕩后的結(jié)構(gòu),其中,相鄰陣列結(jié)構(gòu)之間為切割道;
所述鍵合層、反射層和基板與多個(gè)陣列結(jié)構(gòu)鍵合時(shí)的溫度為300~400℃,鍵合時(shí)間為200~300ms。
7.如權(quán)利要求6所述的一種GaAs基倒裝LED芯片,其特征在于,所述金屬接觸層的材料為Au和/或AuBe,所述鍵合層的材料為Ti/Pt,所述反射層的材料為Au。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的GaAs基倒裝LED芯片,其特征在于,所述金屬接觸層的厚度為所述鍵合層的厚度為所述反射層的厚度為
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的GaAs基倒裝LED芯片,其特征在于,所述鍵合層的厚度為所述反射層的厚度為。
10.一種LED顯示裝置,其特征在于,所述LED顯示裝置包括權(quán)利要求6-9任一項(xiàng)所述的GaAs基倒裝LED芯片。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于山西飛虹微納米光電科技有限公司,未經(jīng)山西飛虹微納米光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710857620.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種草本灌木樹型固定裝置
- 下一篇:一種喬木支撐固定裝置
- 同類專利
- 專利分類
- 光伏型InAs量子點(diǎn)紅外探測(cè)器結(jié)構(gòu)
- 多結(jié)太陽(yáng)電池隧道結(jié)的制備方法
- 一種長(zhǎng)波長(zhǎng)GaAs基MSM和HBT單片集成光探測(cè)器
- 一種雙面生長(zhǎng)的GaAs四結(jié)太陽(yáng)電池
- GaAs基HBT和長(zhǎng)波長(zhǎng)諧振腔單片集成光探測(cè)器
- 980nm半導(dǎo)體激光器結(jié)構(gòu)及制備方法
- 一種Si襯底GaAs單結(jié)太陽(yáng)能電池結(jié)構(gòu)
- 一種帶有GaAs面摻雜平滑層的GaAs基PHEMT外延材料結(jié)構(gòu)
- 半導(dǎo)體激光巴條
- 一種薄型光吸收區(qū)的光二極體結(jié)構(gòu)





