[發明專利]一種基于交叉輪詢機制的多通道快速高精度測溫系統

有效

• 申請號: 201710857468.6
• 申請日: 2017-09-21
• 公開（公告）號: CN107702822B
• 公開（公告）日: 2019-05-10
• 發明（設計）人: 丁炯;楊遂軍;葉樹亮
• 申請（專利權）人: 中國計量大學
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00;G01K7/20;G01K7/18;G01K3/02
• 代理公司: 杭州奧創知識產權代理有限公司 33272
• 代理人: 王佳健

1.一種基于交叉輪詢機制的多通道快速高精度測溫系統，其特征在于，由n個四線制鉑電阻、一個參考電阻、一個恒流源驅動電路、模擬開關陣列電路、n+1個儀用放大電路、n+1個ADC、一片單片機構成；所述模擬開關陣列電路實現鉑電阻電壓、參考電阻電壓與儀用放大電路之間的任意連接，通過配置所述模擬開關陣列電路，實現任意一個電壓信號分時地被n+1個ADC采集，并確保任意一個ADC實現對所有n+1個電壓信號的采集；通過計算任意一個ADC采集的n個鉑電阻電壓與參考電阻電壓之間的比值，獲得n個鉑電阻阻值；再對n+1個不同ADC獲得的同一通道的鉑電阻與參考電阻比值求平均，并轉換成溫度，實現多通道快速高精度溫度測量；

對于每一次輪詢，通過模擬開關陣列配置電流流向從鉑電阻至參考電阻，采集電壓一次；再配置電流流向從參考電阻至鉑電阻，采集電壓一次，將兩次采集電壓求和，消除鉑電阻接口電路寄生熱電動勢、放大電路失調漂移的誤差對鉑電阻測量的影響。