[發明專利]用于消除白光干涉儀干涉信號二階偽耦合點的方法

有效

• 申請號: 201710854493.9
• 申請日: 2017-09-20
• 公開（公告）號: CN107764517B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: 張紅霞;溫國強;王宇瑤;賈大功;劉鐵根;張以謨
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 12201 天津市北洋有限責任專利代理事務所
• 代理人: 程毓英

1.一種用于消除白光干涉儀干涉信號二階偽耦合點的方法，針對采用白光干涉法對保偏光纖偏振耦合效應進行測量的實驗裝置而提出，所述的實驗裝置包括光源模塊、檢偏器和邁克爾遜干涉儀，光源發出的光，經過起偏器后變為線偏振光，線偏振光與保偏光纖的某一個主軸對準入射并沿其傳播，保偏光纖輸出的光經過檢偏器后送入邁克爾遜干涉儀，其特征在于，在檢偏器之前添加延時模塊，

所述的延時模塊包括偏振分束棱鏡、可調光延遲線和偏振合束棱鏡三部分，偏振分束棱鏡的入射端與保偏光纖熔在一起，快軸與快軸對準，慢軸與慢軸對準；偏振分束棱鏡將保偏光纖中一束兩個偏振方向的光在空間上分成兩束線偏振光，使得原慢軸上傳播的光經過可調光延遲線，通過設置可調光延遲線的延時偏置量，實現快軸傳播模式和慢軸傳播模式光程差的調節，將兩種模式在時域上分開，從而避免二階偽耦合點的產生，然后通過偏振合束棱鏡將兩束光匯聚到同一根光纖里，可調光延遲線延時偏置量的設定分如下兩種情況：

(1)當保偏光纖上本征耦合點的位置已知時，設有N個本征耦合點，且本征耦合點之間的距離分別為L₁，L₂……L_N，Δn為待測保偏光纖的模式雙折射，可調光延遲線的延時偏置量D的設定，分如下三種情形：

1)當L₁+L₂+L₃+…L_N-1>L_N時，D≥Δn|L_N-(L₁+L₂+L₃+…L_N-1)|；

2)當L₁+L₂+L₃+…L_N-1＝L_N時，延時偏置量處于臨界值，D＞0；

3)當L₁+L₂+L₃+…L_N-1<L_N時，不需要設置延時偏置量，D＝0；

(2)當保偏光纖上本征耦合點的位置未知時，應先測出耦合點在保偏光纖上的位置，再按照(1)里的三種情形進行設定。