[發明專利]用于檢測過濾器積塵的傳感器及方法有效
| 申請號： | 201710853727.8 | 申請日： | 2017-09-20 |
| 公開（公告）號： | CN107478612B | 公開（公告）日： | 2023-08-04 |
| 發明（設計）人： | 高波 | 申請（專利權）人： | 安費諾（常州）連接系統有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/55 | 分類號： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 上海唯源專利代理有限公司 31229 | 代理人： | 曾耀先 |
| 地址： | 213100 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 檢測 過濾器 傳感器 方法 | ||
1.一種用于檢測過濾器積塵的方法，其特征在于，包括如下步驟：
提供入射光線并向過濾器表面照射；
接收所述過濾器表面反射的反射光并得到反射光功率；
利用不同的兩個入射光功率的光線在所述過濾器表面的光譜反射率相等計算得出反射立體角補償值，并通過所述反射立體角補償值對所得到的反射光功率進行補償，從而得到補償后反射光功率；光譜反射率的計算公式可表示為：
公式一中，ρ為光譜反射率，Q為接收到的反射光功率，l為入射光線的功率，θi為入射光線的立體角，為入射光線的方位角，θr為反射光線的立體角，為反射光線的方位角；
根據兩個不同功率的入射光線照射到過濾器表面相同位置后，得到的反射光功率不同，但相鄰的兩次過濾器表面的光譜反射率不變化，從而可知：
利用功率為的入射光線照射到過濾器表面，接收到的反射光所對應的反射光功率的可表示對應的光譜反射率為
利用功率為的入射光線照射到過濾器表面，接收到的反射光所對應的反射光功率的可表示對應的光譜反射率為
根據兩次的光譜反射率相等，即，ρx1＝ρx2，從而能夠得出反射立體角補償值θrx；以及
利用所述的補償后的反射光功率和所述入射光線的功率計算得出對應的光譜反射率，進而判斷得出所述過濾器表面的積塵程度。
2.如權利要求1所述的用于檢測過濾器積塵的方法，其特征在于，利用不同的兩個入射光功率的光線在所述過濾器表面的光譜反射率相等計算得出反射立體角補償值，包括：
提供另一入射光線并向所述過濾器表面照射，接收所述另一入射光線經所述過濾器表面反射的反射光并得到對應的另一反射光功率，所述另一入射光線的功率與所述入射光線的功率不同，進而通過所述另一入射光線的光譜反射率與所述入射光線的光譜反射率相等而計算得出所述反射立體角補償值；或者
以第一發射光功率向過濾器表面照射第一光線，并接收所述過濾器表面反射的反射光得到對應的第一反射光功率；以第二發射光功率向所述過濾器表面照射第二光線，并接收所述過濾器表面反射的反射光得到對應的第二反射光功率；通過所述第一光線和所述第二光線的光譜反射率相等，進而計算得到所述反射立體角補償值。
3.如權利要求1或2所述的用于檢測過濾器積塵的方法，其特征在于，通過所述反射立體角補償值對所得到的反射光功率進行補償，包括：
利用所述反射立體角補償值和反射立體角標準值的差值計算得出對應的非漫反射產生的反射光功率偏差值；
將所述反射光功率偏差值與所述反射光功率求和從而實現了對所述反射光功率進行補償。
4.如權利要求1所述的用于檢測過濾器積塵的方法，其特征在于，提供入射光線并向過濾器表面照射包括：
提供光源，利用所述光源產生設定發射光功率的入射光線并向所述過濾器表面照射；
提供準直透鏡，將所述準直透鏡設于所述光源的前方，使得所述光源產生的入射光線經過所述準直透鏡后形成均勻的平行光線照射于所述過濾器表面。
5.如權利要求1所述的用于檢測過濾器積塵的方法，其特征在于，接收所述過濾器表面反射的反射光時，包括：
提供光接收探測器，利用所述光接收探測器接收所述過濾器表面反射的反射光；
提供聚焦透鏡，將所述聚焦透鏡設于所述光接收探測器的前方，使得所述過濾器表面反射的反射光經過所述聚焦透鏡聚集在所述光接收探測器上。
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