[發明專利]一種磁盤陣列IO分配系統及方法

有效

• 申請號: 201710852816.0
• 申請日: 2017-09-19
• 公開（公告）號: CN107544759B
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 王志浩
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06;G06F11/07
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種磁盤陣列IO分配系統及方法，通過磁盤讀寫測試模塊分別對磁盤陣列各個磁盤進行至少包括4K隨機讀寫測試、4K連續讀寫測試、256K隨機讀寫測試及256K連續讀寫測試的讀寫性能測試，得出測試結果，比較各個測試項的測試結果與相應預設值的大小，當測試項的測試結果小于預設值時，將測試項的測試結果反饋至管理模塊；管理模塊根據所接收到的測試項的測試結果，確定出磁盤是否存在讀寫性能缺陷，并規避給存在讀寫性能缺陷的磁盤分配與讀寫性能缺陷對應的讀寫IO，可見，本發明規避向出現某種或某些讀寫性能損耗的磁盤分配與讀寫性能損耗類別相應的讀寫IO，可以提高機械盤的使用效率和磁盤陣列的讀寫速度。

技術領域

本發明涉及存儲技術領域，特別涉及一種磁盤陣列IO分配系統及方法。

背景技術

隨著存儲技術以及需求的不斷發展，機械磁盤的應用也越來越廣泛。

當前，諸如SATA機械盤等是磁盤陣列的常見組成部分。磁盤陣列中的機械盤在運行過程中，有時會出現讀寫性能損耗，其導致原因可能是內部或外部因素。內部因素可能是機械盤的構成，即機械盤本身的構造導致了機械盤在震動的時候可能會對性能造成很大的影響；外部因素可能是其它機械盤的震動或者是其它，例如，在磁盤陣列中，眾多機械盤自身馬達的轉動和風扇散熱的震動都是不可避免的，這樣就容易導致某些硬盤的讀寫能力產生不小的損耗。

某些硬盤出現讀寫性能損耗，如果不加以分辨、規避，必定會影響到整個磁盤陣列的讀寫速度的。因此，如何分辨出磁盤陣列中的硬盤哪種讀寫性能出現損耗，并加以規避是本領域需要解決的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種磁盤陣列IO分配系統及方法，以解決現有磁盤陣列中機械盤出現讀寫性能損耗進而導致整個磁盤陣列的讀寫速度和使用效率較低的問題。

為解決上述技術問題，本發明提供如下技術方案：

一種磁盤陣列IO分配系統，包括管理模塊、磁盤讀寫測試模塊及機械盤存儲模塊；

所述磁盤讀寫測試模塊用于分別對磁盤陣列各個磁盤進行至少包括4K隨機讀寫測試、4K連續讀寫測試、256K隨機讀寫測試及256K連續讀寫測試的讀寫性能測試，得出各個所述磁盤的各個測試項的測試結果；比較各個所述測試項的測試結果與相應預設值的大小，當所述測試項的測試結果小于所述預設值時，將所述測試項的測試結果反饋至所述管理模塊；

所述管理模塊用于根據所接收到的所述測試項的測試結果，確定出所述磁盤是否存在讀寫性能缺陷，并規避給存在所述讀寫性能缺陷的所述磁盤分配與所述讀寫性能缺陷對應的讀寫IO，所述讀寫性能缺陷為至少包括4K隨機讀寫性能缺陷、4K連續讀寫性能缺陷、256K隨機讀寫性能缺陷及256K連續讀寫性能缺陷的多種讀寫性能缺陷的任意一種或任意組合。

可選地，還包括遷移模塊，用于當符合預設遷移條件時，將存在所述讀寫性能缺陷的所述磁盤內的對應數據塊遷移至預設磁盤進行存儲。

可選地，所述管理模塊包括比對子模塊，用于將當前磁盤的各個所述測試項的測試結果與所有磁盤對應的測試項的測試結果進行對比，確定所述當前磁盤是否存在所述讀寫性能缺陷。

可選地，所述磁盤讀寫測試模塊還包括修改子模塊，用于接收用戶的修改指令，修改各個所述測試項的數據塊大小。

可選地，還包括日志模塊，用于記錄所述測試結果。

可選地，還包括報警模塊，用于當所述磁盤所述測試項的測試結果偏離所述預設值達到預設閾值時，發出報警信息。

一種磁盤陣列IO分配方法，包括：