[發明專利]直行程執行器的測試裝置

在審

• 申請號: 201710847442.3
• 申請日: 2017-09-19
• 公開（公告）號: CN108152020A
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 張小祥;宋文龍;胡寄紅
• 申請（專利權）人: 北京西門子西伯樂斯電子有限公司
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.直行程執行器的測試裝置，其特征在于，其包括：

一個支架(12)；

一個測試軸(14)，所述測試軸(14)穿設于所述支架(12)并可沿自身軸向(Y)相對于所述支架(12)移動，所述測試軸(14)的軸向(Y)上設置有一個力傳感器(141)，所述測試軸(14)的周向上還突設有一個測試部(142)；

一組第一測試擋塊(16)，各所述第一測試擋塊(16)能夠垂直于所述測試軸(14)的軸向移動，以能夠在所述測試軸(14)的軸向(Y)上抵靠于所述測試部(142)的一側，且各所述第一測試擋塊(16)在所述測試軸(14)的軸向(Y)上的抵靠位置各不相同；和

一個動態負載氣缸(19)，所述動態負載氣缸(19)的氣缸軸(192)沿所述測試軸(14)的軸向(Y)固定于所述測試軸(14)的一端，以能夠隨所述測試軸(14)一起移動并能夠沿所述測試軸(14)的軸向向所述測試軸(14)提供推力或拉力。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括一組第二測試擋塊(18)，各所述第二測試擋塊(18)能夠垂直于所述測試軸(14)的軸向(Y)移動，以能夠在所述測試軸(14)的軸向(Y)上抵靠于所述測試部(142)的另一側，且各所述第二測試擋塊(18)在所述測試軸(14)的軸向(Y)上的抵靠位置各不相同。

3.如權利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括用于驅動所述第一測試擋塊(16)和所述第二測試擋塊(18)的氣缸(11)。

4.如權利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述一組第一測試擋塊(16)沿所述測試軸(14)的周向均勻排布，所述一組第二測試擋塊(18)沿所述測試軸(14)的周向均勻排布。

5.如權利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

一個第一校準部(152)，其設置于所述測試軸(14)，且能夠調整其在所述測試軸(14)軸向(Y)的位置；

一個第二校準部(172)，其設置于所述測試軸(14)，且能夠調整其在所述測試軸(14)軸向(Y)的位置；

一個第一校準擋塊(154)，其設置于所述支架(12)，且能夠垂直于所述測試軸(14)的軸向(Y)移動，以在所述測試軸(14)的軸向(Y)上抵靠于所述第一校準部(152)背離所述第二校準部(172)的一側；和

一個第二校準擋塊(174)，其設置于所述支架(12)，且能夠垂直于所述測試軸(14)的軸向(Y)移動，以在所述測試軸(14)的軸向(Y)上抵靠于所述第二校準部(172)朝向所述第一校準部(152)的一側。

6.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

一個位移檢測部(132)，其固設于所述測試軸(14)；和

一個位移傳感器(134)，其設置于所述支架(12)，且能夠感測所述位移檢測部(132)在所述測試軸(14)的軸向(Y)上移動的位移。

7.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括一個測試臺(30)，所述支架(12)設置于所述測試臺(30)，所述測試軸(14)的軸向(Y)水平或豎直設置。

8.如權利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括一個設置于所述測試臺(30)的軌道(32)，所述軌道(32)沿水平方向設置，所述支架(12)能夠滑動地設置于所述軌道(30)。

9.如權利要求8所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括一個溫箱，其設置于所述軌道(32)的延伸方向并能夠容置所述直行程執行器(20)。