[發(fā)明專利]一種白光自干涉表面檢測(cè)儀在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710846015.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107702661A | 公開(公告)日: | 2018-02-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭明杰;李志芳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 福建師范大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01B11/24 | 分類號(hào): | G01B11/24;G02B21/06;G02F1/13 |
| 代理公司: | 福州市博深專利事務(wù)所(普通合伙)35214 | 代理人: | 林志崢 |
| 地址: | 350000 福建省*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 白光 干涉 表面 檢測(cè) | ||
1.一種白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,包括載物臺(tái)以及設(shè)置于載物臺(tái)上的顯微鏡光路和成像光路;所述顯微鏡光路由上至下依次包括科勒照明系統(tǒng)光源、孔徑光闌、分光棱鏡和物鏡,所述孔徑光闌上設(shè)有隨機(jī)分布的陣列針孔;所述成像光路由外至內(nèi)依次包括CCD、傅里葉變換鏡頭、純位相液晶光閥和望遠(yuǎn)透鏡;所述顯微鏡光路的光軸與載物臺(tái)垂直,所述成像光路的光軸與顯微鏡光路的光軸垂直,且顯微鏡光路的光軸與成像光路的光軸的交點(diǎn)在分光棱鏡的分光面上。
2.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述科勒照明系統(tǒng)光源包括依次設(shè)置的鹵素?zé)魺艚z、磨砂片和起偏片,所述鹵素?zé)魺艚z連接于可調(diào)電壓。
3.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述分光棱鏡為寬帶分光棱鏡。
4.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述純位相液晶光閥為純位相電尋址PAL型液晶光閥,所述液晶光閥連接于電腦,由電腦控制其顯示內(nèi)容。
5.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述科勒照明系統(tǒng)光源和孔徑光闌之間還設(shè)置有集光鏡,所述孔徑光闌位于所述集光鏡的后焦面上,且所述孔徑光闌與所述物鏡的后焦面共軛。
6.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述孔徑光闌和分光棱鏡之間還設(shè)置有視野光闌和聚光鏡,所述視野光闌設(shè)置于所述聚光鏡的前焦面上。
7.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述載物臺(tái)設(shè)置于六維調(diào)整臺(tái)上。
8.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述成像光路設(shè)置于所述分光棱鏡的左側(cè),所述分光棱鏡的右側(cè)壁上貼有消光紙。
9.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述CCD以及所述傅里葉變換鏡頭的光路光軸傾斜,且與所述純位相液晶光閥顯示的光柵的一次光方向?qū)R。
10.如權(quán)利要求1所述的白光自干涉表面檢測(cè)儀,其特征在于,所述物鏡為無限遠(yuǎn)平場消色差物鏡,所述物鏡的放大倍數(shù)為10x、20x或40x,所述物鏡的數(shù)值孔徑在0.3-0.85之間。
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