[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710844807.7 | 申請日: | 2017-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN109524395B | 公開(公告)日: | 2020-09-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邱建維;林鑫成;胡鈺豪 | 申請(專利權(quán))人: | 世界先進(jìn)積體電路股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02;H01L29/72;H01L21/76;H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 王濤;賈磊 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,包括:
一半導(dǎo)體基底,具有一第一導(dǎo)電類型,其中該半導(dǎo)體基底包括一第一區(qū)和一第二區(qū);
一埋置層,設(shè)置于該半導(dǎo)體基底的該第一區(qū)內(nèi)且具有該第一導(dǎo)電類型,其中該埋置層的摻質(zhì)濃度高于該半導(dǎo)體基底的摻質(zhì)濃度;
一外延層,設(shè)置于該半導(dǎo)體基底上;
一第一元件,設(shè)置于該半導(dǎo)體基底的該第一區(qū)上,其中該第一元件包括一雙載子-互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體-雙擴(kuò)散金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管,其中該雙載子-互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體-雙擴(kuò)散金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管包括:
一第一阱,設(shè)置于該外延層內(nèi)且具有該第一導(dǎo)電類型;
一第二阱,設(shè)置于該外延層內(nèi)且鄰接該第一阱,其中該第二阱具有與該第一導(dǎo)電類型相反的一第二導(dǎo)電類型;
一第一隔離結(jié)構(gòu),位于該第二阱內(nèi);以及
一第一柵極結(jié)構(gòu),設(shè)置于該外延層上,且位于該第一阱和該第二阱的界面的上方,其中該第一柵極結(jié)構(gòu)覆蓋該第一隔離結(jié)構(gòu)的一部分;以及
一第二元件,設(shè)置于該半導(dǎo)體基底的該第二區(qū)上,其中該第二元件包括一超高壓晶體管,且該埋置層并未延伸至該半導(dǎo)體基底的第二區(qū)。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該埋置層的范圍小于或等于該第一區(qū)的范圍。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該半導(dǎo)體基底的一部分設(shè)置在該埋置層與該外延層之間。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該超高壓晶體管具有一第二隔離結(jié)構(gòu),且該第二隔離結(jié)構(gòu)的長度大于該第一隔離結(jié)構(gòu)的長度。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該雙載子-互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體-雙擴(kuò)散金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管更包括:
一第一摻雜區(qū)和一第二摻雜區(qū),設(shè)置于該第一阱內(nèi),其中該第一摻雜區(qū)具有該第一導(dǎo)電類型,且該第二摻雜區(qū)具有該第二導(dǎo)電類型;以及
一第三摻雜區(qū),設(shè)置于該第二阱內(nèi)且具有該第二導(dǎo)電類型。
6.如權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該雙載子-互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體-雙擴(kuò)散金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管更包括:
一第一源極電極和一第一漏極電極,設(shè)置于該外延層上,其中該第一源極電極電連接于該第一摻雜區(qū)和該第二摻雜區(qū),且該第一漏極電極電連接于該第三摻雜區(qū)。
7.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該超高壓晶體管包括:
一第三阱,設(shè)置于該外延層內(nèi)且具有該第一導(dǎo)電類型;
一第四阱,設(shè)置于該外延層內(nèi)且鄰接該第三阱,其中該第四阱具有與該第一導(dǎo)電類型相反的一第二導(dǎo)電類型,且該第二隔離結(jié)構(gòu)位于該第四阱內(nèi);以及
一第二柵極結(jié)構(gòu),設(shè)置于該外延層上,且位于該第三阱和該第四阱的界面的上方,其中該第二柵極結(jié)構(gòu)覆蓋該第二隔離結(jié)構(gòu)的一部分。
8.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該超高壓晶體管更包括:
一第四摻雜區(qū)和一第五摻雜區(qū),設(shè)置于該第三阱內(nèi),其中該第四摻雜區(qū)具有該第一導(dǎo)電類型,且該第五摻雜區(qū)具有該第二導(dǎo)電類型;以及
一第六摻雜區(qū),設(shè)置于該第四阱內(nèi)且具有該第二導(dǎo)電類型。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該超高壓晶體管更包括:
一第二源極電極和一第二漏極電極,設(shè)置于該外延層上,其中該第二源極電極電連接于該第四摻雜區(qū)和該第五摻雜區(qū),且該第二漏極電極電連接于該第六摻雜區(qū)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





