[發明專利]一種傳感器基線漂移校正的方法以及檢測設備有效
| 申請號: | 201710844732.2 | 申請日: | 2017-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN107607143B | 公開(公告)日: | 2020-04-07 |
| 發明(設計)人: | 歐陽彬;王玉政 | 申請(專利權)人: | 深圳市卡普瑞環境科技有限公司 |
| 主分類號: | G01D18/00 | 分類號: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市福田區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 傳感器 基線 漂移 校正 方法 以及 檢測 設備 | ||
1.一種傳感器基線漂移校正的方法,其特征在于,包括:
獲取傳感器在第一時間段的第一實際信號與第一基線信號,所述第一實際信號由所述傳感器檢測得到;
獲取縮放系數;
根據所述第一基線信號與所述縮放系數計算得到基線漂移補償;
根據所述第一實際信號與所述基線漂移補償對所述傳感器的基線漂移進行校正;
所述方法還包括:
獲取第二實際信號,所述第二實際信號為傳感器在第二時間段檢測得到的信號;
獲取所述第二時間段內的第二基線信號;
獲取參考取值,所述參考取值為所述第二時間段內標準分析儀器檢測得到的取值,所述傳感器檢測的被測量與所述標準分析儀器檢測的被測量相同;
根據預置的公式對所述第二實際信號、所述第二基線信號與所述參考取值進行計算得到所述縮放系數,所述預置的公式包括:C=(R-kB)/S,所述C為所述參考取值,所述R為所述第二實際信號,所述B為所述第二基線信號,所述k為所述縮放系數,所述S為所述傳感器的靈敏度;
將所述縮放系數存儲至本地數據庫。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取縮放系數,包括:
從所述本地數據庫中獲取所述縮放系數。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根據所述第一實際信號與所述基線漂移補償對所述傳感器的基線漂移進行校正,包括:
扣除所述第一實際信號中的所述基線漂移補償。
4.一種檢測設備,其特征在于,包括:
第一獲取模塊,用于獲取傳感器在第一時間段的第一實際信號與第一基線信號,所述第一實際信號由所述傳感器檢測得到;
第二獲取模塊,用于獲取縮放系數;
第一計算模塊,用于根據所述第一基線信號與所述縮放系數計算得到基線漂移補償;
校正模塊,用于根據所述第一實際信號與所述基線漂移補償對所述傳感器的基線漂移進行校正;
所述檢測設備還包括:
第三獲取模塊,還用于獲取第二實際信號,所述第二實際信號為傳感器在第二時間段內測得的信號;
第四獲取模塊,還用于獲取所述第二時間段內的第二基線信號;
第五獲取模塊,用于獲取參考取值,所述參考取值為所述第二時間段內標準分析儀器檢測得到的取值,所述傳感器檢測的被測量與所述標準分析儀器檢測的被測量相同;
第二計算模塊,用于根據預置的公式對所述第二實際信號、所述第二基線信號與所述參考取值進行計算得到所述縮放系數,所述預置的公式包括:C=(R-kB)/S,所述C為所述參考取值,所述R為所述第二實際信號,所述B為所述第二基線信號,所述k為所述縮放系數,所述S為所述傳感器的靈敏度;
存儲模塊,用于將所述縮放系數存儲至本地數據庫。
5.根據權利要求4所述的檢測設備,其特征在于,
所述第二獲取模塊,還用于從所述本地數據庫中獲取所述縮放系數。
6.根據權利要求4或5所述的檢測設備,其特征在于,
所述校正模塊,還用于扣除所述第一實際信號中的所述基線漂移補償。
7.一種檢測設備,其特征在于,包括:
處理器、存儲器、總線以及輸入輸出接口;
所述存儲器中存儲有程序代碼;
所述處理器調用所述存儲器中的程序代碼時執行權利要求1至3中任一項所述方法的步驟。
8.一種計算機可讀存儲介質,包括指令,當所述指令在計算機上運行時,使得計算機執行如權利要求1至3中任意一項所述的方法。
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