[發明專利]校準系統

有效

• 申請號: 201710839547.4
• 申請日: 2017-09-18
• 公開（公告）號: CN108307178B
• 公開（公告）日: 2021-11-09
• 發明（設計）人: H.米勒
• 申請（專利權）人: 艾克松有限責任公司
• 主分類號: H04N13/246
• 分類號: H04N13/246;H04N5/232;G02B27/62;G02B23/24;G02B30/35;A61B1/045;A61B1/00;A61B34/20
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 李萌

1.一種用于校準光學系統的方法，具有以下步驟：

-將具有已知的可見參考對象特征的、預定參考對象布置在通過所述光學系統檢測的視野中；

-通過傳感器系統測取由所述光學系統提供的所述預定參考對象的圖像，或者在立體光學系統中的所述預定參考對象的第一和/或第二半圖像；

-確定預定參考對象的至少兩個在所述圖像或在所述第一和/或第二半圖像中成像的可見的參考對象特征的位置信息；

-根據所述至少兩個可見的參考對象特征的位置信息求得所述圖像或所述第一和/或第二半圖像的光學畸變；

-通過根據求得的光學畸變設置幾何校正，校準與傳感器系統至少間接地相連的圖像處理器；

其中，在光學系統用于檢測被檢查對象的運行期間，所述方法接下來具有以下步驟：

-將待檢查的對象布置在通過光學系統檢測的視野中；

-測取位置數據，所述位置數據包含通過至少一個參考點確定的、通過所述光學系統提供的待檢查對象的圖像的位置偏差或在立體光學系統中的待檢查對象的第一和第二半圖像的位置偏差；和

-通過由圖像處理器設置所述圖像或第一和/或第二半圖像的相應位移來根據所測取的位置偏差校準圖像處理器。

2.按照權利要求1所述的方法，其中，所述光學系統是立體的，其中，待檢查的對象具有位于通過光學系統檢測的視野中的至少一個可見的檢查對象特征，該檢查對象特征用作參考點和/或在檢查對象上通過所述方法產生至少一個能夠用作參考點的特征，并且其中所述位置數據的測取具有以下步驟：

-通過傳感器系統測取由所述光學系統提供的待檢查對象的第一和第二半圖像；

-確定在第一半圖像中的所述至少一個參考點的第一垂直和/或水平的圖像坐標，并且確定在第二半圖像中的所述至少一個參考點的相應的第二垂直和/或水平的圖像坐標，

-其中，參照水平圖像軸確定可能的水平圖像坐標，所述水平圖像軸位于立體光學系統的圖像平面內并與立體光學系統的兩個光軸相交，并且

-其中，參照垂直圖像軸確定可能的垂直圖像坐標，所述垂直圖像軸位于光學系統的圖像平面內且垂直于水平圖像軸。

3.按照權利要求2所述的方法，其中，預定參考對象的第一和第二半圖像由傳感器系統檢測，并且其中，通過第一半圖像中成像的至少兩個已知的可視參考對象特征與在第二半圖像上成像的至少兩個已知的可見參考對象特征的對比來校準圖像處理器。

4.按照權利要求3所述的方法，其中，除了求得光學畸變之外，該方法還包括求得第一和第二半圖像之間的放大差或第一和第二半圖像之間的相對位移或在第一和第二半圖像之間的旋轉，或以上數據的組合。

5.按照權利要求1所述的方法，其中，相應的位移的設置這樣進行，使得通過幾何校正處理的圖像信息根據位置數據而位移。

6.按照權利要求1所述的方法，其中，相應的位移的設置這樣進行，使得根據位置數據位移的圖像信息通過幾何校正處理。

7.按照權利要求1所述的方法，其中，幾何校正的設置和/或位移的設置被存儲為校準參數。

8.按照權利要求1所述的方法，其中，至少一個參考點通過提供指向待檢查對象的光束而形成。