[發明專利]摩擦配向方法及其裝置

有效

• 申請號: 201710835260.4
• 申請日: 2017-09-15
• 公開（公告）號: CN107561787B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 井楊坤
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/1337
• 分類號: G02F1/1337
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 曲鵬;張京波

本發明實施例提供了一種摩擦配向方法及其裝置。摩擦配向方法包括：在摩擦配向過程中，測量摩擦布的回彈力；根據所述回彈力生成基板的摩擦痕跡。本發明通過在摩擦配向過程中測量摩擦布的回彈力，并根據回彈力獲得基板的摩擦痕跡，不僅實現了在摩擦配向過程中有效監控摩擦配向質量，而且實現了在摩擦配向過程中有效監控摩擦布缺陷。與現有技術相比，本發明由于是在摩擦配向過程中有效監控摩擦配向質量和摩擦布缺陷，因而可以及時發現摩擦缺陷并進行相應的處理，減小了存在摩擦缺陷的基板的數量，最大限度地避免了浪費。

技術領域

本發明涉及顯示技術生產技術領域，具體涉及一種摩擦配向方法及其裝置。

背景技術

液晶顯示(Liquid Crystal Display，LCD)面板由陣列基板和彩膜基板對盒形成，在陣列基板和彩膜基板之間滴注有液晶。為了使液晶分子在沒有電場的情況下按照一定的方向規則排列，陣列基板和彩膜基板的相對面上分別設置有配向膜，配向膜上設置有沿一定方向規則排列的溝槽，溝槽能使液晶分子在無電場的情況下，沿著溝槽按照設定的方向均勻的排列在基板表面，實現多個液晶分子的配向。通常，配向膜上的溝槽通過包裹在摩擦輥(Roller)上的摩擦布(Rubbing Cloth)以一定方向和壓入量對涂覆并固化在基板上的配向膜進行摩擦形成。因此，摩擦配向工藝是制造液晶顯示面板的一道重要工序，摩擦配向質量直接影響到液晶顯示面板的品質。

通常，陣列基板和彩膜基板的表面存在段差，段差是指基板經過多道工藝而形成的表面結構高低不平的狀態。例如，每次干刻和濕刻后，因部分區域的圖案被刻蝕掉會形成表面的高低不平。在摩擦配向過程中，當摩擦輥在基板表面沿設定的方向滾動時，基板表面段差會導致摩擦布出現局部多毛、少毛或損傷等缺陷，這些缺陷在后續摩擦中，會造成其處理的區域配向能力與正常區域存在差異，形成局部區域液晶配向的預傾角的不同或反轉，即出現摩擦缺陷(Rubbing Mura)，導致顯示不良。

目前，針對摩擦配向這種微觀的過程，現有技術無法在摩擦配向過程中對配向質量進行有效的監控，僅能實現在摩擦配向完成后通過檢測基板得知摩擦缺陷，但這種后續檢測即使檢測到摩擦缺陷時，已經有大量的基板配向完成，造成較大的浪費。因此，如何在摩擦配向過程有效的監控配向質量，是本領域亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明實施例所要解決的技術問題是，提供一種摩擦配向方法及其裝置，實現在摩擦配向過程有效監控配向質量。

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種摩擦配向方法，包括：

在摩擦配向過程中，測量摩擦布的回彈力；

根據所述回彈力生成基板的摩擦痕跡。

可選地，所述測量摩擦布的回彈力包括：

采用回彈力測量裝置對摩擦布的回彈力進行測量，并將測量結果發送給數據處理裝置，測量結果包括測量時刻、測量位置和摩擦布的回彈力。

可選地，所述根據所述回彈力生成基板的摩擦痕跡包括：

數據處理裝置根據所述測量時刻和測量位置獲得基板上的摩擦位置，根據所述摩擦布的回彈力獲得所述摩擦位置的摩擦痕跡。

可選地，還包括：

根據所述摩擦痕跡判斷摩擦配向的質量。

可選地，在對基板進行摩擦配向之前，還包括：

采用摩擦布對標準基板進行摩擦，獲得所述摩擦布多個位置的標準回彈力；

在所述標準回彈力基礎上，設置標準閾值。

可選地，還包括：

判斷所述回彈力與標準回彈力的差值超出所述標準閾值時，對摩擦痕跡進行標記；

根據所述標記確定摩擦布的缺陷點。