[發明專利]一種基于阻抗技術的大型精密鑄件的振動時效處理方法及實驗裝置在審
| 申請號: | 201710834859.6 | 申請日: | 2017-10-09 |
| 公開(公告)號: | CN107643339A | 公開(公告)日: | 2018-01-30 |
| 發明(設計)人: | 張軍;黎俊楠;郭永存;王成軍;楊洪濤;黃友銳;李憲華;趙義;袁翔;陸俊峰;王古超;張繼明 | 申請(專利權)人: | 安徽理工大學 |
| 主分類號: | G01N29/09 | 分類號: | G01N29/09;G01N29/12;C21D10/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 232001 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 阻抗 技術 大型 精密 鑄件 振動 時效 處理 方法 實驗 裝置 | ||
1.一種基于阻抗技術的大型精密鑄件的振動時效方法,所述方法使用的實驗裝置包括,阻抗分析儀(1)、被時效的大型精密鑄件(2)、第一壓電傳感器(3)、第二壓電傳感器(4)、第三壓電傳感器(5)、第四壓電傳感器(6)、四通道信號發生器(7)、電腦及其軟件處理系統(8)、第一電磁激振器(30)、第二電磁激振器(31)、第三電磁激振器(32)、第四電磁激振器(33),四通道功率放大器(34);其特征在于:所述第一壓電傳感器(3)包括第一基座(9)、第一壓電陶瓷片(13),所述第二壓電傳感器(4)包括第二基座(10)、第二壓電陶瓷片(14),所述第三壓電傳感器(5)包括第三基座(11)、第三壓電陶瓷片(15),所述第四壓電傳感器(6)包括第四基座(12)、第四壓電陶瓷片(16);所述第一壓電陶瓷片(13)的負極面通過導電銀膠粘貼在第一基座(9)上,所述第二壓電陶瓷片(14)的負極面通過導電銀膠粘貼在第二基座(10)上,所述第三壓電陶瓷片(15)的負極面通過導電銀膠粘貼在第三基座(11)上,所述第四壓電陶瓷片(16)的負極面通過導電銀膠粘貼在第四基座(12)上;在被時效的大型精密鑄件(2)上選取第一關鍵拾振部位(20)、第二關鍵拾振部位(21)、第三關鍵拾振部位(22)、第四關鍵拾振部位(23),將所述第一壓電傳感器(3),第二壓電傳感器(4),第三壓電傳感器(5),第四壓電傳感器(6)分別通過改性低熔點高硬度石蠟粘貼在第一關鍵拾振部位(20)、第二關鍵拾振部位(21)、第三關鍵拾振部位(22)、第四關鍵拾振部位(23);在被時效的大型精密鑄件(2)上選取第一關鍵激振部位(24)、第二關鍵激振部位(25)、第三關鍵激振部位(26)、第四關鍵激振部位(27);將第一電磁激振器(30)、第二電磁激振器(31)、第三電磁激振器(32)、第四電磁激振器(33)分別通過夾具固定在第一關鍵激振部位(24)、第二關鍵激振部位(25)、第三關鍵激振部位(26)、第四關鍵激振部位(27)上;四通道信號發生器(7)通過四通道功率放大器(34)分別與第一電磁激振器(30)、第二電磁激振器(31)、第三電磁激振器(32)、第四電磁激振器(33)電性連接。
2.根據權利要求1所述一種基于阻抗技術的大型精密鑄件的振動時效方法,其特征在于:激振頻率的確定方法包括,
1)所述阻抗分析儀(1)先與第一壓電傳感器(3)電性連接,在20Hz-1000Hz范圍內,通過阻抗分析儀(1)的掃頻,找出被時效的大型精密鑄件(2)的阻抗峰值變化最大的第一時效共振頻率f1,同時將掃頻數據保存到電腦及其軟件處理系統(8)中進行數據圖像處理;
2)所述阻抗分析儀(1)斷開與第一壓電傳感器(3)電性連接,再將阻抗分析儀(1)與第二壓電傳感器(4)電性連接,在20Hz-1000Hz范圍內,通過阻抗分析儀(1)的掃頻,找出被時效的大型精密鑄件(2)的阻抗峰值變化最大的第一時效共振頻率f1,同時將掃頻數據保存到電腦及其軟件處理系統(8)中進行數據圖像處理;
3)所述阻抗分析儀(1)斷開第二壓電傳感器(4)的電性連接,將阻抗分析儀(1)與第三壓電傳感器(5)電性連接,在20Hz-1000Hz范圍內,通過阻抗分析儀(1)的掃頻,找出被時效的大型精密鑄件(2)的阻抗峰值變化最大的第一時效共振頻率f1,同時將掃頻數據保存到電腦及其軟件處理系統(8)中進行數據圖像處理;
4)所述阻抗分析儀(1)斷開第三壓電傳感器(5)的電性連接,將阻抗分析儀(1)與第四壓電傳感器(6)電性連接,在20Hz-1000Hz范圍內,通過阻抗分析儀(1)的掃頻,找出被時效的大型精密鑄件(2)的阻抗峰值變化最大的第一時效共振頻率f1,同時將掃頻數據保存到電腦及其軟件處理系統(8)中進行數據圖像處理。
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