[發(fā)明專利]一種電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710831290.8
• 申請(qǐng)日: 2017-09-15
• 公開（公告）號(hào): CN107422217B
• 公開（公告）日: 2023-06-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李強(qiáng);陸瑜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州邁為科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛(wèi);郝彩華

本發(fā)明公開了一種電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)，電池片的正反面電極不對(duì)應(yīng)，測(cè)試機(jī)構(gòu)包括立板、在立板上上下滑動(dòng)的上測(cè)試探針組件和下測(cè)試探針組件，上測(cè)試探針組件包括上探針排和固定在上探針排上的上探針，下測(cè)試探針組件包括下探針排和固定在下探針排上的下探針，上探針與電池片的正面電極對(duì)應(yīng)，下探針與電池片的反面電極對(duì)應(yīng)；測(cè)試機(jī)構(gòu)還包括虛接探針，虛接探針固定在上探針排上并與下探針相對(duì)應(yīng)，或者，虛接探針固定在下探針排上并與上探針相對(duì)應(yīng)，測(cè)試時(shí)，上探針、下探針和虛接探針均抵在電池片上。該電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可在電池片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，使電池片上下表面的受力均衡，從而降低電池片的碎片率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電池片制造技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)。

背景技術(shù)

電池片在正負(fù)電極制成之后，需要根據(jù)自身的發(fā)電效率分成各個(gè)等級(jí)，以便于后續(xù)的組裝和確定電池片的價(jià)格，經(jīng)過(guò)效率等級(jí)區(qū)分后才能對(duì)成品電池片進(jìn)行包裝，而電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)能測(cè)試出電池片的效率，區(qū)分電池片屬于哪個(gè)效率區(qū)間，電池片的定價(jià)也是由電池片的效率高低決定的。

現(xiàn)有技術(shù)中，電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)包括可上下升降的上測(cè)試探針組件和可上下升降的下測(cè)試探針組件，上測(cè)試探針組件位于電池片的上方，下測(cè)試探針組件位于電池片的下方，測(cè)試時(shí)，上測(cè)試探針組件和下測(cè)試探針組件相向運(yùn)動(dòng)夾緊電池片進(jìn)行測(cè)試，這種電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)所測(cè)試的電池片的正反面電極結(jié)構(gòu)是對(duì)應(yīng)的，測(cè)試時(shí)，上測(cè)試探針組件和下測(cè)試探針組件作用在電池片上的力相對(duì)應(yīng)可互相抵消，從而防止電池片破碎。

但這種測(cè)試機(jī)構(gòu)具有一定的局限性，只能對(duì)正反面電極結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的電池片進(jìn)行測(cè)試，而對(duì)于正反面電極結(jié)構(gòu)不對(duì)應(yīng)的電池片，例如疊瓦電池，由于電池片上下受力不均則容易導(dǎo)致電池片破碎。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的問(wèn)題提供一種可對(duì)正反面電極結(jié)構(gòu)不對(duì)應(yīng)的電池片進(jìn)行測(cè)試的電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：

一種電池片測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述電池片的正反面電極結(jié)構(gòu)不對(duì)應(yīng)，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括立板、能夠沿上下方向滑動(dòng)地設(shè)置在所述立板上的上測(cè)試探針組件和下測(cè)試探針組件，所述上測(cè)試探針組件位于所述電池片的上方，所述下測(cè)試探針組件位于所述電池片的下方，所述上測(cè)試探針組件包括能夠沿上下方向滑動(dòng)地設(shè)置在所述立板上的上探針排和固定設(shè)置在所述上探針排上的多個(gè)上探針，所述下測(cè)試探針組件包括能夠沿上下方向滑動(dòng)地設(shè)置在所述立板上的下探針排和固定設(shè)置在所述下探針排上的多個(gè)下探針，所述上探針在所述上探針排上的位置與所述電池片的正面的電極相對(duì)應(yīng)，所述下探針在所述下探針排上的位置與所述電池片的反面的電極相對(duì)應(yīng)，測(cè)試時(shí)，多個(gè)所述上探針之間以及所述上探針與所述電池片的正面電極之間相導(dǎo)通，多個(gè)所述下探針之間以及所述下探針與所述電池片的反面電極之間相導(dǎo)通；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)還包括多個(gè)虛接探針，多個(gè)所述虛接探針之間不導(dǎo)通，所述虛接探針固定設(shè)置在所述上探針排上，且所述虛接探針在所述上探針排上的位置與所述下探針的位置相對(duì)應(yīng)，所述虛接探針與所述上探針和所述電池片的正面電極均不導(dǎo)通，或者，所述虛接探針固定設(shè)置在所述下探針排上，且所述虛接探針在所述下探針排上的位置與所述上探針的位置相對(duì)應(yīng)，所述虛接探針與所述下探針和所述電池片的反面電極均不導(dǎo)通，當(dāng)所述電池片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述上探針、所述下探針和所述虛接探針均抵設(shè)在所述電池片上。

優(yōu)選地，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)還包括在所述電池片進(jìn)行測(cè)試時(shí)用于放置所述電池片的托盤組件，所述托盤組件能夠沿上下方向滑動(dòng)地設(shè)置在所述立板上，所述托盤組件位于所述上測(cè)試探針組件和所述下測(cè)試探針組件之間。

進(jìn)一步地，所述電池片經(jīng)皮帶傳送機(jī)構(gòu)傳送到所述托盤組件上進(jìn)行測(cè)試，所述皮帶傳送機(jī)構(gòu)包括傳送帶，所述托盤組件包括能夠沿上下方向滑動(dòng)地設(shè)置在所述立板上的底板、固定設(shè)置在所述底板上的多塊托板，多塊所述托板依次順序間隔設(shè)置，每相鄰兩塊所述托板之間形成一容納所述傳送帶鉤槽，所述鉤槽的寬度大于所述傳送帶的寬度，當(dāng)對(duì)所述電池片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述電池片位于所述托板上，所述傳送帶位于所述鉤槽內(nèi)。