[發(fā)明專利]一種離軸視場下稀疏孔徑望遠鏡子鏡誤差的檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710829459.6 | 申請日： | 2017-09-14 |
| 公開（公告）號： | CN107633126A | 公開（公告）日： | 2018-01-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陳寶華;吳泉英;范君柳;王振亞 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州科技大學 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50;G01M11/00 |
| 代理公司： | 蘇州創(chuàng)元專利商標事務(wù)所有限公司32103 | 代理人： | 陶海鋒 |
| 地址： | 215009 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 視場 稀疏 孔徑 望遠 鏡子 誤差 檢測 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種離軸視場下稀疏孔徑子鏡誤差的檢測方法，其特征在于包括如下步驟：
（1）在光學設(shè)計軟件平臺上設(shè)計得到理想的稀疏孔徑望遠鏡光學系統(tǒng)，選取光學系統(tǒng)中某一子鏡的若干個不同的視場方向，分別獲得所述子鏡在各視場方向的前三項澤尼克系數(shù)值；按式，，，分別得到對應(yīng)于澤尼克多項式前三項的視場對波前畸變影響的離軸視場系數(shù)、和，其中，和分別為與光軸垂直的xy平面內(nèi)的歸一化視場坐標量；分別計算所得到的離軸視場系數(shù)、和的平均值，對應(yīng)記作、和；
（2）按步驟（1）設(shè)計得到的理想稀疏孔徑望遠鏡光學系統(tǒng)進行加工，安裝后得到實際的稀疏孔徑望遠鏡光學系統(tǒng)；選取光學系統(tǒng)中某一子鏡的某個離軸視場，采用相位差異法進行檢測，得到所述離軸視場下的前三項澤尼克系數(shù)值K1、K2、K3；
（3）按聯(lián)立方程組
得到，其中，和為所述離軸視場的歸一化視場坐標量；、和分別對應(yīng)為所述子鏡的平移誤差、x方向傾斜誤差和y方向傾斜誤差。
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