[發(fā)明專利]一種測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710828490.8
• 申請日: 2017-09-14
• 公開（公告）號: CN107782279B
• 公開（公告）日: 2019-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張寧;葉露;宋瑩;沈湘衡
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所
• 主分類號: G01C1/02
• 分類號: G01C1/02;G01C25/00
• 代理公司: 深圳市科進(jìn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316
• 代理人: 趙勍毅

1.一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，所述方法包括：

在實驗室環(huán)境中，光電經(jīng)緯儀對模擬目標(biāo)源進(jìn)行多次成像，獲取多組第一特征參數(shù)和第二特征參數(shù)；

利用所述第一特征參數(shù)和第二特征參數(shù)建立多元線性回歸模型，并計算所述多元線性回歸模型中的回歸系數(shù)及常數(shù)項；

在外場環(huán)境中，光電經(jīng)緯儀對外場目標(biāo)進(jìn)行成像，獲取此時相應(yīng)的第二特征參數(shù)；

將此時相應(yīng)的第二特征參數(shù)代入所述多元線性回歸模型中，計算獲得外場的調(diào)整傳遞函數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，所述模擬目標(biāo)源為復(fù)合目標(biāo)源，所述復(fù)合目標(biāo)源包括用于產(chǎn)生調(diào)制傳遞函數(shù)測試的MTF目標(biāo)源和用于產(chǎn)生圖像清晰度特征向量的圖像目標(biāo)源。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，所述第一特征參數(shù)為調(diào)制傳遞函數(shù)，所述第二特征參數(shù)為圖像清晰度向量。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，所述每組圖像清晰度向量中包括36個圖像清晰度相關(guān)的特征值。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，建立所述多元線性回歸模型時，將所述調(diào)制傳遞函數(shù)作為所述多元線性回歸模型的因變量，將所述圖像清晰度向量作為所述多元線性回歸模型的自變量。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，所述圖像清晰度向量采用BRISQUE算法對成像圖像進(jìn)行評價獲得。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，采用最小二乘法計算所述多元線性回歸模型中的回歸系數(shù)及常數(shù)項。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，在實驗室環(huán)境中，光電經(jīng)緯儀在多次成像過程中處于不同的離焦?fàn)顟B(tài)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，所述光電經(jīng)緯儀在外場環(huán)境時的工作狀態(tài)與在實驗室環(huán)境時的工作狀態(tài)保持一致。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試光電經(jīng)緯儀在外場時的調(diào)制傳遞函數(shù)的方法，其特征在于，在外場環(huán)境中，首先對所述光電經(jīng)緯儀所獲取的圖像進(jìn)行預(yù)處理，再采用圖像質(zhì)量評價算法獲取第二特征參數(shù)。