[發(fā)明專利]模擬浮動(dòng)?xùn)艠O測(cè)斜儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710822771.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107830844B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | M·埃斯丘 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 德州儀器公司 |
| 主分類號(hào): | G01C9/18 | 分類號(hào): | G01C9/18;G01C25/00 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 林斯凱 |
| 地址: | 美國(guó)德*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 模擬 浮動(dòng) 柵極 測(cè)斜儀 | ||
1.一種測(cè)斜儀,其包括:
半導(dǎo)體襯底;
位于所述半導(dǎo)體襯底上方的電介質(zhì)層,所述電介質(zhì)層界定容納導(dǎo)電液滴的密封弧形微溝道;
位于所述密封弧形微溝道中的接入端口電極,所述接入端口電極中的每一者與在所述相應(yīng)接入端口電極的接近范圍內(nèi)的參考電極相關(guān)聯(lián)且沿著所述密封弧形微溝道的彎曲部分安置,所述接入端口電極以按角度傾斜分辨率校準(zhǔn)的弧長(zhǎng)度彼此間隔開(kāi);及
位于所述半導(dǎo)體襯底中的模擬浮動(dòng)?xùn)艠OAFG裝置,其各自對(duì)應(yīng)于一或多個(gè)接入端口電極,其中所述AFG裝置中的每一者包括電耦合到所述對(duì)應(yīng)接入端口電極的第一導(dǎo)體及電耦合到與所述對(duì)應(yīng)接入端口電極相關(guān)聯(lián)的所述參考電極的第二導(dǎo)體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)斜儀,其進(jìn)一步包括耦合到所述AFG裝置中的每一者的控制電路,所述控制電路經(jīng)配置以進(jìn)行以下操作:(i)沿著插入有所述導(dǎo)電液滴的在所述對(duì)應(yīng)接入端口電極與所述相關(guān)聯(lián)參考電極之間的導(dǎo)電路徑檢測(cè)所述AFG裝置中的至少一者中的放電電流;及(ii)基于對(duì)所述AFG裝置中的所述至少一者的所述放電電流的所述檢測(cè)而確定角度傾斜測(cè)量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)斜儀,其中所述AFG裝置中的每一者進(jìn)一步包括:
浮動(dòng)?xùn)艠O;
金屬氧化物半導(dǎo)體MOS晶體管,其具有形成于所述半導(dǎo)體襯底中且通過(guò)溝道區(qū)域彼此分離的源極區(qū)域及漏極區(qū)域,其中所述浮動(dòng)?xùn)艠O的第一部分安置于所述溝道區(qū)域上方以充當(dāng)所述MOS晶體管的柵極電極;及
存儲(chǔ)電容器,其包含由所述浮動(dòng)?xùn)艠O的第二部分形成的第一極板及通過(guò)電介質(zhì)膜與所述第一極板分離的第二極板,
其中所述浮動(dòng)?xùn)艠O與所述第一導(dǎo)體電接觸且所述第二導(dǎo)體耦合到接地參考電壓節(jié)點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)斜儀,其中所述控制電路耦合到所述AFG裝置中的每一者的所述漏極區(qū)域且耦合到所述AFG裝置中的每一者的所述存儲(chǔ)電容器的所述第二極板,并且經(jīng)配置以在參與測(cè)量操作之前選擇性地偏置所述MOS晶體管以將所述AFG裝置的所述浮動(dòng)?xùn)艠O充電。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)斜儀,其中所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以在所述測(cè)量操作之后施加中和脈沖以使所述AFG裝置的所述浮動(dòng)?xùn)艠O放電。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)斜儀,其中所述導(dǎo)電液滴經(jīng)定大小以在所述導(dǎo)電液滴在重力下沉降于一個(gè)接入端口電極處時(shí)僅覆蓋所述接入端口電極及對(duì)應(yīng)參考電極。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)斜儀,其中所述導(dǎo)電液滴經(jīng)定大小以在所述導(dǎo)電液滴在重力下沉降時(shí)覆蓋多于一個(gè)接入端口電極及對(duì)應(yīng)參考電極以在其間提供相應(yīng)導(dǎo)電路徑,且進(jìn)一步其中所述控制電路經(jīng)配置以檢測(cè)耦合到由所述導(dǎo)電液滴覆蓋的所述相應(yīng)多個(gè)接入端口電極的多個(gè)AFG裝置中的放電電流且基于所述多個(gè)接入端口電極沿著所述密封弧形微溝道的所述彎曲部分的相應(yīng)位置而確定角度傾斜測(cè)量。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)斜儀,其進(jìn)一步包括耦合到所述控制電路以傳遞與所述角度傾斜測(cè)量有關(guān)的信號(hào)的通信收發(fā)器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)斜儀,其中所述電介質(zhì)層界定形成圓的至少一部分以測(cè)量角度傾斜的預(yù)定最大范圍的密封弧形微溝道。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)斜儀,其中圓的所述至少一部分包括半圓以測(cè)量±90度的角度傾斜,且進(jìn)一步其中所述接入端口電極包括N個(gè)接入端口電極,其中N是基于所述角度傾斜分辨率而選擇。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測(cè)斜儀,其中N=181且所述N個(gè)接入端口電極以按1度的角度傾斜分辨率校準(zhǔn)的弧長(zhǎng)度彼此間隔開(kāi)。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)斜儀,其中圓的所述至少一部分包括四分之一圓以測(cè)量±45度的角度傾斜,且進(jìn)一步其中所述接入端口電極包括以按1度的角度分辨率校準(zhǔn)的弧長(zhǎng)度彼此間隔開(kāi)的N個(gè)接入端口電極。
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