[發明專利]一種快速工業分析儀

在審

• 申請號: 201710822769.5
• 申請日: 2017-09-13
• 公開（公告）號: CN107449691A
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發明（設計）人: 黃剛;曹學軍
• 申請（專利權）人: 長沙開元平方軟件有限公司
• 主分類號: G01N5/04
• 分類號: G01N5/04
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

1.一種快速工業分析儀，其特征在于，包括相互獨立工作的水分測試單元、灰分測試單元和揮發分測試單元；

所述水分測試單元包括第一加熱爐組件，通過第一天平對樣品進行稱重，所述樣品放置在水分坩堝內，所述第一天平放置在第一升降平臺下部，所述水分坩堝放置在第一送樣盤機構，第一送樣桿安裝在所述第一天平的天平支架上，通過第一電機帶動所述第一升降平臺上升或下降，使所述水分坩堝進入所述第一加熱爐組件進行水分測試，或離開所述第一加熱爐組件；

所述灰分測試單元包括第二加熱爐組件，通過第二天平對所述樣品進行稱重，將所述樣品放置在灰分坩堝內，所述第二天平放置在第二升降平臺下部，所述灰分坩堝放置在第二送樣盤機構，第二送樣桿安裝在所述第二天平的天平支架上，所述灰分坩堝放置在第二送樣盤機構，通過第二電機帶動所述第二升降平臺上升或下降，使所述灰分坩堝進入所述第二加熱爐組件進行灰分測試，或離開所述第二加熱爐組件；

所述揮發分測試單元包括第三加熱爐組件，通過第三天平對所述樣品進行稱重，將所述樣品放置在揮發分坩堝內，所述第三天平放置在第三升降平臺下部，所述揮發分坩堝放置在第三送樣盤機構，第三送樣桿安裝在所述第三天平的天平支架上，所述揮發分坩堝放置在第三送樣盤機構，通過第三電機帶動所述第三升降平臺上升或下降，使所述揮發分坩堝進入所述第三加熱爐組件內對所述樣品進行揮發分測試。

2.如權利要求1所述快速工業分析儀，其特征在于，所述第一電機通過第一絲桿帶動所述第一升降平臺上升或下降，或所述第二電機通過第二絲桿帶動所述第二升降平臺上升或下降，或所述第三電機通過第三絲桿帶動所述第三升降平臺上升或下降。

3.如權利要求2所述快速工業分析儀，其特征在于，還包括與所述水分測試單元、灰分測試單元、揮發分測試單元連接的顯示器，用于顯示所述水分測試單元、所述灰分測試單元、所述揮發分測試單元的測試數據。

4.如權利要求3所述快速工業分析儀，其特征在于，所述第一送樣盤機構、所述第二送樣盤機構或所述第三送樣盤機構包括用于控制對坩堝的位置和角度進行調整的旋轉部件和固定相對位置的定位孔。

5.如權利要求4所述快速工業分析儀，其特征在于，還包括與所述水分測試單元、灰分測試單元、揮發分測試單元連接的存儲器，用于存儲所述水分測試單元、所述灰分測試單元、所述揮發分測試單元的測試數據。

6.如權利要求5所述快速工業分析儀，其特征在于，所述第一電機、所述第二電機或所述第三電機為步進電機或伺服機器。

7.如權利要求6所述快速工業分析儀，其特征在于，還包括與所述水分測試單元、所述灰分測試單元和所述揮發分測試單元連接的控制器，用于輸入所述水分測試單元、所述灰分測試單元和所述揮發分測試單元的工作參數以及控制所述水分測試單元、所述灰分測試單元和所述揮發分測試單元輸出檢測試數據。