[發明專利]一種回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置在審
| 申請號: | 201710817986.5 | 申請日: | 2017-09-12 |
| 公開(公告)號: | CN107345800A | 公開(公告)日: | 2017-11-14 |
| 發明(設計)人: | 黃俊卿 | 申請(專利權)人: | 上海聯合滾動軸承有限公司 |
| 主分類號: | G01B21/08 | 分類號: | G01B21/08 |
| 代理公司: | 上海灣谷知識產權代理事務所(普通合伙)31289 | 代理人: | 肖進 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 回轉 支承 軸承 隔離 測量 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置。
背景技術
隔離塊是用在回轉支承軸承的滾道內,用于隔離回轉支承滾動球體,起到保持架的作用,減少球體硬度層不必要的磨損。它在圓柱體結構塊體的外表面上對稱地設有兩個球冠。隔離塊的底厚是關系到相鄰球體之間的相對距離,以便控制整個軸承內的滾動球體的周向間隙。目前,在測量隔離塊1的底厚尺寸X時采用的是游標卡尺2,測量時將兩粒標準鋼球3分別放在隔離塊1的兩側球窩內(如圖1所示),用游標卡尺2測量兩粒鋼球3夾著隔離塊1后長度方向的最大值L,再將讀數減去兩粒標準鋼球3的標注直徑Ф,所得的數值為隔離塊1的底厚尺寸X。
上述方法的缺陷有兩方面缺陷:
1)由于隔離塊的兩側球冠半徑和鋼球的半徑是不一致的,鋼球的曲率半徑小于隔離塊的球冠的曲率半徑,這些自由度容易產生累計誤差,所以測量重復性和再現性較差;
2)測量數值的大小與操作者的手勢、手勢測力的大小有關,因此測量精度較低。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術的缺陷而提供一種回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置,它不僅能減少測量中的累計誤差,提高測量的準確性,并且還能提高工作效率。
本發明的目的是這樣實現的:一種回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置,包括支架、測量儀安裝機構和測量儀;其中,
所述支架包括一塊臺板、一根垂直固定在臺板的一側邊的立柱和一塊固定在立柱的下部的底托,該底托上固定一測量支座;
所述測量儀安裝機構安裝在所述立柱的側面上開設的一條通槽上;該測量儀安裝機構包括一前滑塊、一后滑塊和一滑塊鎖緊機構;所述前滑塊和后滑塊的表面上一上一下地分別開設一個穿孔;所述滑塊鎖緊機構包括一根鎖緊螺栓和一個鎖緊螺母,當前滑塊和后滑塊各自貼覆在所述立柱的前側面和后側面上,并且前滑塊上的上、下穿孔和后滑塊上的上、下穿孔均與立柱上的通槽對準時,將所述鎖緊螺栓依次穿過所述前滑塊的下穿孔、立柱的通槽和后滑塊的下穿孔后通過所述鎖緊螺母將前滑塊和后滑塊固定在立柱上;
所述測量儀垂直地安裝在一抱箍上,該抱箍的后端連接一根水平向的調節螺栓,該調節螺栓依次穿過所述前滑塊的上穿孔、立柱的通槽和后滑塊的上穿孔后通過調節墊圈和調節螺母安裝在前滑塊和后滑塊上,使測量儀通過前滑塊和后滑塊上下移動,并使測量儀通過調節螺栓前后移動,以使測量儀的測頭與測量支座同軸。
上述的回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置,其中,所述測量儀為軸承比較儀。
上述的回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置,其中,所述滑塊鎖緊機構還包括一個安裝在所述鎖緊螺栓上并位于后滑塊與鎖緊螺母之間的T形墊圈。
上述的回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置,其中,所述前滑塊和后滑塊的頂面上還各自開設一個與所述上穿孔垂直連通的螺紋孔,每個螺紋孔中各自安裝一個防止調節螺栓轉動的止頭螺釘。
本發明的回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置具有以下特點:
1)自由度減少,減少了測量中的累計誤差,提高了測量的重復性、再現性;
2)軸承比較儀測量時的測力為儀表本身自帶測力,相對于使用游標卡尺時由檢驗人員施加的測力,其值為固定值,變化較小,提高了測量的準確性。
3)測量統一型號的產品時,無需每次加裝鋼球,提高了工作效率。
4)保證了軸承總裝后的滾動球體的周向間隙,滿足用戶需求。
附圖說明
圖1是現有技術的隔離塊的底厚的測量裝置的結構示意圖;
圖2是發明的回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置的結構示意圖;
圖3是發明的隔離塊的底厚的測量裝置的一種工作狀態圖。
圖4是發明的隔離塊的底厚的測量裝置的另一種工作狀態圖。
具體實施方式
下面將結合附圖對本發明作進一步說明。
先請參閱圖2,本發明的回轉支承軸承隔離塊的底厚的測量裝置,包括支架、測量儀安裝機構和測量儀3;其中:
支架包括一塊臺板11、一根垂直固定在臺板11的一側邊的立柱12和一塊固定在立柱12的下部的底托13,該底托13上固定一測量支座14;
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