[發(fā)明專利]一種可靠性在線監(jiān)測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710817304.0
• 申請日: 2017-09-12
• 公開（公告）號: CN107505525B
• 公開（公告）日: 2020-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 夏克泉;朱智源;徐志偉;楊李杰;厲敏;李娜雨;宋春毅
• 申請（專利權(quán)）人: 浙江大學(xué)
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01N21/88
• 代理公司: 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200
• 代理人: 鄭海峰

本發(fā)明公開了一種可靠性在線監(jiān)測系統(tǒng)，包括在線測量電子元器件的電性能特性曲線和電子元器件表面受腐蝕程度的實時監(jiān)測裝置。本發(fā)明公開的在線測量電子元器件的電性能特性曲線的裝置能夠保證電子元器件在正常工作的情況下，對電子元器件的電性能進(jìn)行測量并轉(zhuǎn)化為電性能特性曲線，通過電子屏幕顯示出來，將實時記錄的電性能特性曲線記錄到存儲器中；當(dāng)異常數(shù)據(jù)出現(xiàn)時，系統(tǒng)會使微型攝像頭進(jìn)行拍照記錄，將電子元器件表面老化腐蝕狀況傳輸?shù)斤@示屏上，以達(dá)到對電子元器表面老化以及腐蝕狀況在線監(jiān)測的目的。該在線監(jiān)測系統(tǒng)可以廣泛的應(yīng)用到海洋電子領(lǐng)域，對推動海洋電子可靠性的發(fā)展具有重大戰(zhàn)略意義。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于海洋電子可靠性領(lǐng)域，更具體的說涉及一種可靠性在線監(jiān)測系統(tǒng)及其方法。

背景技術(shù)

以往對于電子設(shè)備，為了測量其電子元器件的電性能特性，需要將設(shè)備斷電，然后進(jìn)行測量，有時還要將電子元器件從設(shè)備上拆卸下來，這樣既影響設(shè)備的正常工作，在裝拆過程中也會對電子元器件產(chǎn)生損壞，另外對于封裝要求較高的設(shè)備進(jìn)行測試，需要對設(shè)備進(jìn)行開封和密封，造成測試成本較高。隨著對電子技術(shù)研究的不斷深入，人們不斷尋找新的研究方法，有人提出關(guān)斷回路中的電流，再進(jìn)行測試，該方法雖然不用裝拆電子元器件，但對電子設(shè)備的工作仍然產(chǎn)生了一定的影響，尤其是高密封設(shè)備。除此之外，雖然有很多方案能夠?qū)崿F(xiàn)對電子元器件的電性能參數(shù)的測量，但是測試所需要的設(shè)備過于龐大和復(fù)雜，不利于狹窄空間更不利于實時監(jiān)測，并且受外界環(huán)境因素影響較大，工作可靠性差的缺陷。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明的目的在于提供一種可靠性在線監(jiān)測系統(tǒng)及其方法，包括在線測量電子元器件的電性能特性曲線的裝置，和電子元器件表面受腐蝕程度的實時監(jiān)測裝置。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下，一種可靠性在線監(jiān)測系統(tǒng)包括在線測量電子元器件電性能特性曲線的裝置和電子元器件表面受腐蝕程度的實時監(jiān)測裝置，所述在線測量電子元器件電性能特性曲線的裝置包括數(shù)據(jù)采集部分、數(shù)據(jù)處理部分、數(shù)據(jù)存儲部分及顯示屏；數(shù)據(jù)處理部分接收數(shù)據(jù)采集部分的數(shù)據(jù)，將其轉(zhuǎn)化為電性能特性曲線，電性能特性曲線由顯示屏進(jìn)行顯示，并在數(shù)據(jù)存儲部分存儲；所述電子元器件表面受腐蝕程度的實時監(jiān)測裝置，包括攝像頭、視頻存儲部分以及所述顯示屏；攝像頭拍攝的數(shù)據(jù)由顯示屏進(jìn)行顯示，并由視頻存儲部分進(jìn)行存儲；

所述的數(shù)據(jù)采集部分包括兩個電力測試專用夾、電性能特性采集裝置、調(diào)理裝置以及A/D轉(zhuǎn)換器；電力測試專用夾、電性能特性采集裝置、調(diào)理裝置以及A/D轉(zhuǎn)換器順次相連。

優(yōu)選的，所述的電性能特性采集裝置包括電壓測量裝置、電流測量裝置、測試電源；電流測量裝置和測試電源串聯(lián)連接，串聯(lián)后通過電力測試專用夾分別連接待測量電子元器件兩端，電壓測量裝置通過電力測試專用夾與待測量電子元器件并聯(lián)，所述的電壓測量裝置、電流測量裝置的測量數(shù)據(jù)經(jīng)調(diào)理裝置以及A/D轉(zhuǎn)器后傳輸給數(shù)據(jù)處理部分。

優(yōu)選的，所述的測試電源包括直流測試電源和交流測試電源，所述的電壓測量裝置為選頻電壓測量裝置，所述的電流測量裝置為選頻電流測量裝置。

優(yōu)選的，所述的調(diào)理裝置為調(diào)理電路，所述的調(diào)理電路將測得的模擬電壓和電流篩減調(diào)理后，經(jīng)隔離干擾送達(dá)A/D轉(zhuǎn)換器進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，所述的A/D轉(zhuǎn)換器采用的芯片是ADS1299LQFP64模/數(shù)轉(zhuǎn)換芯片。

優(yōu)選的，所述的數(shù)據(jù)處理部分采用的是單片機(jī)，單片機(jī)芯片是TL866CS，單片機(jī)將接受到的數(shù)字量處理后，轉(zhuǎn)化為電性能特性曲線。

優(yōu)選的，所述的數(shù)據(jù)存儲部分采用ROM只讀存儲器，將數(shù)字處理后電性能特性曲線存儲起來。

優(yōu)選的，所述的攝像頭安裝于待測電子元器件的表面，當(dāng)所述電性能特性曲線異常數(shù)據(jù)出現(xiàn)時，系統(tǒng)會控制攝像頭，將待測電子元器件的表面老化腐蝕情況，以視頻的的形式存儲并將實時畫面?zhèn)魉偷斤@示器上。

優(yōu)選的，所述的攝像頭固定安裝在所述的數(shù)據(jù)采集部分上，并且所述的攝像頭正對所述的待測電子元器件。