[發(fā)明專利]一種提高單分子光學(xué)成像對比度的裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710815710.3 | 申請日: | 2017-09-12 |
| 公開(公告)號: | CN107478630B | 公開(公告)日: | 2020-04-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳瑞云;周海濤;肖連團(tuán);張國峰;秦成兵;高巖;賈鎖堂 | 申請(專利權(quán))人: | 山西大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司: | 山西五維專利事務(wù)所(有限公司) 14105 | 代理人: | 雷立康;朱世婷 |
| 地址: | 030006 山*** | 國省代碼: | 山西;14 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 分子 光學(xué) 成像 對比度 裝置 方法 | ||
1.一種提高單分子光學(xué)成像對比度的裝置,其特征在于:包括激光脈沖延遲和相位調(diào)制部分、信號分析和控制部分、單分子激發(fā)及熒光探測部分;
所述激光脈沖延遲和相位調(diào)制部分包括亞皮秒脈沖激光器(1)、λ/2波片(2)、50/50分束器(3)、直角反射鏡I(4)、直角反射鏡II(5)、電光調(diào)制器(6)、信號發(fā)生器(7)、高壓放大器(8)和λ/4波片(9);所述λ/2波片(2)、50/50分束器(3)、直角反射鏡I(4)依次設(shè)在亞皮秒脈沖激光器(1)水平線偏振光輸出方向,所述直角反射鏡II(5)設(shè)在50/50分束器(3)反射光方向且直角反射鏡II(5)可沿光束傳播方向移動,所述λ/4波片(9)設(shè)在直角反射鏡II(5)和50/50分束器(3)之間,所述電光調(diào)制器(6)設(shè)在直角反射鏡I(4)和50/50分束器(3)之間,所述高壓放大器(8)和信號發(fā)生器(7)設(shè)在電光調(diào)制器(6)一側(cè),高壓放大器(8)的信號輸出端與電光調(diào)制器(6)的信號輸入端連接,高壓放大器(8)的信號輸入端與信號發(fā)生器(7)的輸出端連接,所述信號發(fā)生器(7)提供調(diào)制信號,用于控制高壓放大器(8)輸出高壓信號加載到電光調(diào)制器(6),所述高壓放大器(8)監(jiān)控信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡(16)輸入端連接;
所述單分子激發(fā)及熒光探測部分包括:二向色鏡(10)、物鏡(11)、三維納米位移臺(12)、單分子樣品(13)、針孔(14)、透鏡I(19)、透鏡II(20)和單光子探測器(15);所述二向色鏡(10)設(shè)在50/50分束器(3)處合束后的激光傳輸方向上且起分光作用,物鏡(11)設(shè)在二向色鏡(10)的反射光路上,單分子樣品(13)固定在物鏡(11)上方的三維納米位移臺(12)上;透鏡I(19)、透鏡II(20)和單光子探測器(15)設(shè)在二向色鏡(10)的透射光路上,針孔(14)設(shè)在透鏡I(19)和透鏡II(20)之間,所述單光子探測器(15)的信號輸出端分別與數(shù)據(jù)采集卡(16)和時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器(17)的信號輸入端連接;
所述信號分析和控制部分包括:數(shù)據(jù)采集卡(16)、時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器(17)和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(18);所述數(shù)據(jù)采集卡(16)的信號輸出端與三維納米位移臺(12)的信號輸入端連接,三維納米位移臺(12)反饋信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡(16)的反饋信號輸入端連接,數(shù)據(jù)采集卡(16)用于控制三維納米位移臺(12)在x-y平面掃描,同時(shí)接收三維納米位移臺(12)的反饋信號;所述數(shù)據(jù)采集卡(16)和時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器(17)通過通用串行總線與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(18)連接,所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(18)通過軟件實(shí)現(xiàn)信號分析和控制。
2.利用權(quán)利要求1所述的一種提高單分子光學(xué)成像對比度的裝置提高成像對比度的方法,其特征在于:包括以下步驟:
a、亞皮秒脈沖激光器(1)輸出的亞皮秒脈沖由50/50分束器(3)分為兩路脈沖光,兩路脈沖光各自經(jīng)過時(shí)間延遲系統(tǒng)后合束,形成相對延時(shí)可調(diào)的脈沖對序列;調(diào)節(jié)兩路脈沖序列的相對延時(shí)在零延時(shí)附近,通過電光調(diào)制器(6)調(diào)制兩束脈沖光之間的相對相位差;
b、合束后的脈沖對序列經(jīng)物鏡(11)聚焦后激發(fā)單分子,通過單光子探測器(15)對單分子熒光信號進(jìn)行探測,單光子探測器(15)將接收到的單光子信號轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)的TTL電壓脈沖,然后發(fā)送至數(shù)據(jù)采集卡(16)和時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器(17)進(jìn)行計(jì)數(shù),并輸入計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(18)進(jìn)行信號分析;
c、數(shù)據(jù)采集卡(16)輸出電壓控制信號控制三維納米位移臺(12),掃描樣品逐點(diǎn)經(jīng)過物鏡(11)聚焦光斑,并逐點(diǎn)探測相應(yīng)位置的熒光獲得單分子二維成像;時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器(17)逐點(diǎn)提取單分子熒光量子相干信號,經(jīng)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(18)傅里葉變換后得到相應(yīng)調(diào)制頻率處的頻譜強(qiáng)度信息,獲得單分子熒光量子相干頻譜成像。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于山西大學(xué),未經(jīng)山西大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710815710.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





