[發明專利]一種谷物干燥理論積溫品質圖形繪制查索方法

有效

• 申請號: 201710813307.7
• 申請日: 2017-09-11
• 公開（公告）號: CN107688714B
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 吳文福;金毅;齊德波;王炫權;張亞秋;韓峰;徐巖;王銳
• 申請（專利權）人: 吉林大學;長春吉大科學儀器設備有限公司;長春市神陽機電有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06Q50/02;F26B3/00
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 周明飛

1.一種谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一：建立理論積溫曲線方程CT₀和品質曲線方程Q；

步驟二：以待干燥谷物初始水分為縱坐標，以干燥介質溫度為橫坐標，繪制包含谷物干燥理論積溫曲線和谷物干燥品質曲線的等效積溫品質圖形；

步驟三：確定烘干作業時待干燥谷物的初始水分M₀，并在所述等效積溫品質圖形中的標記初始水分點，并通過所述初始水分點畫水平線，所述水平線與所述谷物干燥品質曲線的交點A，得到所述等效積溫品質圖形中A點對應的橫坐標，即干燥介質溫度為T，在烘干過程中要保證谷物的平均溫度不應超過溫度T；

步驟四：經過交點A的積溫曲線所對應的積溫值即是在烘干過程中需要參考的理論積溫值CT₀。

2.根據權利要求1所述的谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，所述理論積溫曲線方程為：

CT₀＝R·X^T；

所述品質曲線方程為：

Q＝R′·X^T；

其中，R為理論積溫模型系數矩陣；

X為參數矩陣，

R′為品質系數矩陣；

x₁為干燥介質溫度；x₂為干燥介質相對濕度；x₃為稻谷初始水分；x₄為干燥介質流速；x₅為緩蘇比，a₀、a₁₂、a₁₃...a₄₅、為矩陣R內參數，均為常數，b₀、b₁₂、b₁₃...b₄₅、為品質系數矩陣內參數，均為常數。

3.根據權利要求2所述的谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，

稻谷的理論積溫方程為：

稻谷的品質曲線方程為：

其中，x₁為干燥介質溫度；x₂為干燥介質相對濕度；x₃為稻谷初始水分；x₄為干燥介質流速；x₅為緩蘇比。

4.根據權利要求1或2所述的谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，所述步驟二中橫坐標干燥介質溫度在試驗范圍內按照0.5℃的步長進行劃分，將縱坐標谷物初始水分在試驗范圍內按照0.5％的步長進行劃分。

5.根據權利要求4所述的谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，所述谷物干燥理論積溫曲線和谷物干燥品質曲線為等濕度曲線，其中，濕度指標為干燥介質的相對濕度。

6.根據權利要求5所述的谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，所述等濕度曲線的取值步長為10％。

7.根據權利要求5所述的谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，所述步驟二中，干燥介質流速在實驗范圍內取m個數據點和緩蘇比在實驗范圍內取n個特征點，將任一數據點和特征點的組合帶入理論積溫曲線方程和品質曲線方程，能夠得到m×n幅效積溫品質圖形。

8.根據權利要求1所述的谷物干燥積溫品質圖形繪制查索方法，其特征在于，在實際應用過程中還需要對理論等效積溫進行折算，折算公式為：

CT₁＝K₀·CT₀；

其中，CT₁為理論等效積溫；CT₀為理論積溫；K₀為折算系數。