[發(fā)明專利]模數(shù)轉(zhuǎn)換器中的電氣噪聲降低有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710812348.4 | 申請日： | 2017-09-11 |
| 公開（公告）號： | CN107809246B | 公開（公告）日： | 2021-07-06 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | A·班德約帕得哈 | 申請（專利權(quán)）人： | 美國亞德諾半導(dǎo)體公司 |
| 主分類號： | H03M1/08 | 分類號： | H03M1/08;H03M1/46 |
| 代理公司： | 中國貿(mào)促會專利商標事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人： | 周陽君 |
| 地址： | 美國馬*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 轉(zhuǎn)換器 中的 電氣 噪聲 降低 | ||
1.一種帶通整形具有比較器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC電路和邏輯電路的逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路的噪聲的方法，該方法包括：
通過DAC電路對模擬輸入信號進行采樣，并與比較器和邏輯電路合作執(zhí)行DAC的至少一個位試驗，以將采樣的模擬輸入信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并且從而使DAC在位-試驗狀態(tài)；
在位-試驗狀態(tài)期間采樣DAC的殘留誤差；
使用帶通濾波器濾波所述采樣的殘留誤差；
提供所述帶通濾波器的輸出信號作為反饋信號,
其中該提供包括將所述帶通濾波器的輸出信號作為反饋信號添加到DAC或者從DAC提供的參考電壓中減去所述帶通濾波器的輸出信號。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述帶通濾波器是無源濾波器，被構(gòu)造為在位-試驗狀態(tài)期間采樣DAC的殘留誤差。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述帶通濾波器是開關(guān)的電容器濾波器，被構(gòu)造為在DAC電路的位試驗周期期間在至少一個電容元件上存儲電荷，并且當(dāng)DAC在位-試驗狀態(tài)時向或從所述至少一個電容元件轉(zhuǎn)移電荷。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，包括當(dāng)DAC在位-試驗狀態(tài)時將與所述輸出信號對應(yīng)的電荷轉(zhuǎn)移到電容式存儲元件上。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，包括在DAC的位試驗期間將電容式存儲元件的端子連接到DAC或參考。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在位-試驗狀態(tài)期間采樣DAC的殘留誤差包括在DAC電路的一個位試驗周期期間采樣殘留誤差。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，包括：
將采樣的殘留誤差轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號；
使用數(shù)字帶通濾波器濾波數(shù)字信號；
將濾波的數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號；和
提供所述模擬信號作為反饋信號。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，包括通過逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的一個或多個時鐘周期延遲提供帶通濾波器的輸出信號作為反饋信號。
9.一種過采樣的逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路，包括：
數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC電路，被構(gòu)造為對模擬輸入信號進行采樣，并與比較器和邏輯電路合作執(zhí)行DAC的至少一個位試驗，以將采樣的模擬輸入信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并且從而使DAC在位-試驗狀態(tài)；和
帶通濾波器，被構(gòu)造為在位-試驗狀態(tài)期間采樣DAC的殘留誤差，并且提供所述濾波的輸出信號作為反饋信號至比較器，
其中所述帶通濾波器被構(gòu)造為將輸出信號作為反饋信號添加到DAC中，或從逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路的參考電壓中減去帶通濾波器的輸出信號。
10.如權(quán)利要求9所述的過采樣的逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路，其中所述帶通濾波器順序或系數(shù)是可編程的。
11.如權(quán)利要求9所述的過采樣的逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路，其中所述帶通濾波器是無源濾波器，被構(gòu)造為在位-試驗狀態(tài)期間采樣DAC的殘留誤差。
12.如權(quán)利要求9所述的過采樣的逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路，其中所述帶通濾波器是開關(guān)的電容器濾波器，被構(gòu)造為在DAC電路的位試驗周期期間在電容元件上存儲電荷，并且當(dāng)DAC在位-試驗狀態(tài)時向或從電容元件轉(zhuǎn)移電荷。
13.如權(quán)利要求9所述的過采樣的逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路，包括電容式存儲元件，被構(gòu)造為當(dāng)DAC在位-試驗狀態(tài)時接收和存儲對應(yīng)于濾波的輸出信號的電荷，同時DAC在位-試驗狀態(tài)。
14.如權(quán)利要求9所述的過采樣的逐次求近寄存器SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電路，其中電容式存儲元件被構(gòu)造為在DAC的位試驗期間將與存儲的電荷相對應(yīng)的電壓提供給DAC。
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