[發明專利]一種X光線調整裝置在審
| 申請號: | 201710811362.2 | 申請日: | 2017-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN107644697A | 公開(公告)日: | 2018-01-30 |
| 發明(設計)人: | 劉召貴;吳娜;黃沖 | 申請(專利權)人: | 江蘇天瑞儀器股份有限公司 |
| 主分類號: | G21K1/02 | 分類號: | G21K1/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215347 江蘇省蘇州市昆*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光線 調整 裝置 | ||
技術領域
本發明屬于順序式波長色散X熒光光譜儀領域,尤其涉及一種采用多個X光線調整裝置的順序式波長色散X熒光光譜儀的X光線調整裝置。
背景技術
順序式波長色散X熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品,分析速度快,適用于測定原子序數4以上的所有化學元素,分析精度高,樣品制備簡單。
順序式波長色散X熒光光譜儀按應用范圍分為同位素順序式波長色散X熒光光譜儀、無機順序式波長色散X熒光光譜儀和有機順序式波長色散X熒光光譜儀;按分辨本領分為高分辨、中分辨和低分辨順序式波長色散X熒光光譜儀;按工作原理分為靜態儀器和動態儀器;原有的順序式波長色散X熒光光譜儀都是使用單個準直器進行物質分析,在進行不同物質分析的過程中,需要多次調整和替換,甚至可能需要換不同型號的準直器,為了操作便捷,產生了使用多個準直器的順序式波長色散X熒光光譜儀,但在使用過程中,發現采用市場上現有的準直器制造的多個準直器的順序式波長色散X熒光光譜儀光束傳輸過程中會出現出現漏光、吸光等現象,導致通光量小、光束傳輸效率低、穩定性差,且構造復雜、制造成本高,因此需要尋找一種能夠滿足使用需求的方案。
發明內容
有鑒于此,本發明旨在克服現有技術中的上述缺陷中的至少一個,提出了一種通光量大、光束傳輸效率高、穩定性強、結構簡單且成本低的X光線調整裝置,其包括:
凹型支撐、底座支撐,所述凹型支撐正視方向圖形為U型結構,所述U型結構底面輪廓為柱面,所述柱面上有定位結構,所述底座支撐與所述U型結構的兩側通過聯結件聯結;
準直片、用于形成所述準直片間距的隔片,所述準直片與所述隔片間隔且平行放置,所述隔片放在兩片所述準直片之間且位于所述準直片的兩側;且所述準直片和所述隔片安裝在沿所述凹型支撐縱向的內部;
所述凹型支撐縱向的兩側安裝有限制所述準直片和所述隔片的限位部件,兩側的所述限位部件固定在所述X光線調整裝置內且距離大于所述準直片和所述隔片的長度。
根據本專利背景技術中對現有技術所述,原有的順序式波長色散X熒光光譜儀都是使用單個準直器進行物質分析,在進行不同物質分析的過程中,需要多次調整和替換,甚至可能需要換不同型號的準直器,為了操作便捷,產生了使用多個準直器的順序式波長色散X熒光光譜儀,但在使用過程中,發現采用市場上現有的準直器制造的多個準直器的順序式波長色散X熒光光譜儀光束傳輸過程中會出現出現漏光、吸光等現象,導致通光量小、光束傳輸效率低、穩定性差,且構造復雜、制造成本高,因此需要尋找一種能夠滿足使用需求的方案;而本發明公開的一種X光線調整裝置,由底座支撐與有定位結構的柱面凹型支撐通過聯結件聯結構成,且所述凹型支撐縱向的內部安裝有平行放置的準直片和用于形成所述準直片間距的隔片,并通過所述凹型支撐縱向的兩側安裝的限位部件限制所述準直片和所述隔片,使得射入的發散射線變成平行準直光束射出的同時保證裝置結構的穩定性,因此能夠大大削弱準直器的漏光和吸光的缺點,提高通光量和光束傳輸效率,加強準直器的穩定性,因此具有明顯的優點。
另外,根據本發明公開的X光線調整裝置還具有如下附加技術特征:
進一步地,所述定位結構為定位槽,所述定位槽為沿所述凹型支撐縱向方向貫通所述柱面或一段開放另一端封閉在所述柱面內部。
進一步地,所述定位結構為定位孔或定位銷。
進一步地,所述限位部件為圓柱型。
進一步地,所述限位部件位于所述準直片和所述隔片的前后方,前后方的所述限位部件之間距離大于所述準直片和所述隔片的長度。
進一步地,所述準直片厚度一致且厚度在0.073mm-0.087mm范圍內,平行誤差在0.004mm范圍內,周邊光滑無毛刺,表面平整,光潔無污,無劃痕。
進一步地,所述準直片長邊在102.5mm-107.5mm范圍內,寬邊在32.5mm-38.5mm范圍內。
進一步地,所述隔片厚度在0.45mm-0.55mm范圍內,周邊光滑無毛刺。
進一步地,所述隔片為兩端部具有缺口的長條片,兩端所述缺口最短長度與所述準直片長度相等。
本發明附加的方面和優點將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過本發明的實踐了解到。
附圖說明
本發明的上述和/或附加的方面和優點從下面結合附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中:
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